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利用晶體水平旋轉法檢驗波片的快慢軸 Fang-Wen Sheua,b （許芳文）and Shu-Yen Liu a （劉書巖） a Department of Applied Physics, National Chiayi University, Chiayi 60004, Taiwan b Graduate Institute of Optoelectronics and Solid State Electronics, National Chiayi University, Chiayi 60004, Taiwan a b （國立嘉義大學 應用物理學系， 光電暨固態電子研究所） Telephone: 05-2717993; Fax: 05-2717909; E-mail: fwsheu@mail.ncyu.edu.tw (NSC-95-2112-M-415-004) 摘要 我們建立一套簡易的實驗系統及方法，配合理論電腦模擬結果，可以檢驗出四分之一波片的快軸 與慢軸。過程是先找出波片晶體主軸的位置，再利用檢偏片量測45°線偏振光通過晶體主軸為水平或垂直的四分 之一波片後，其水平、垂直兩正交偏振模態電場分量的相位差大小與波片水平旋轉角度的關係，並和理論模擬 圖形比對即可分辨。 關鍵字 相位差（phase delay ）、波片（wave plate ）、雙折射（birefringence ）、晶體主軸（crystal principle axis ） 1. 前言 光學波片是一種基本且重要的光學元件，而對講求精密度的量測系統而言，我們對於各式元件無論在定性 或定量上的特性，就必須更精確的加以求證才行，當然對於光學波片也不例外。我們利用一套簡易的實驗系統 及方法，配合電腦理論模擬結果，判斷出四分之一波片（材質為石英，屬正單軸雙折射晶體）的快軸與慢軸的 位置。我們先將橢圓偏振光相位差檢測的理論公式代入電腦模擬程式，求得理論上相位差大小隨波片水平旋轉 角度的分佈圖形。實驗過程則是先找出波片晶體主軸的位置，再利用檢偏片量測 45°線偏振光通過四分之一波片 後，其水平、垂直兩正交偏振模態電場分量的相位差大 小與波片水平旋轉角度的關係，並和理論模擬圖形比對， 就可以分辨出四分之一波片的主軸是快軸或慢軸。 2. 檢驗波片快慢軸的實驗原理與理論模擬結果： 圖 1和圖 2 分別是當晶體軸在c y 方向及x 方向的折射率橢圓正視圖。當晶體軸在c y 方向時，x 、y偏振的輸入 光分量所看的折射率分別是no 、ne ；而當晶體軸在c x 方向時（晶體尚未水平旋轉），x 、y偏振的輸入光分量所看 的折射率分別是 ne 、no 。當45°線偏振光通過四分之一波片後，其晶體主軸上兩正交模態電場分量的相位差分別 為+90°和 -90° 。 我們利用 For迴圈先模擬出當晶體 c軸在垂直方向而且晶體水平旋轉的情形，下列為部份的 Mathematica 電腦模擬程式碼： i 1 y E jè!!!! z L inx j 2 z J N j z; z@n_, θ_D: ; j z