交联聚乙烯电缆绝缘中局部放电和电树枝测试方法.docVIP

交联聚乙烯电缆绝缘中局部放电和电树枝的测试方法 M JEVTIC，A M ANDREEV 摘要：本文介绍了一种在几何学上从点到平面的测试交联聚乙烯(XLPE)中压电缆绝缘模型局部放电和电树枝的方法。基于该法，如今已经能够对绝缘中电树枝和局部放电性进行一种相对的评价。XLPE通过用不同的方法（蒸汽介质和热氮介质(XLPE)绝缘中压电缆。电树枝(Tanaka 1986)，水树枝(Steennis and Kreuger 1990)，电化学树枝（水树的一种小分类(Ku and Liepins 1987)）(Gherardi and Metra 19831)引起聚合物电缆绝缘介质长期的电学性质的失效。这些失效的统计反映了不同材料和电缆结构抗上述树枝的性能。本文的目的是制定一种以耐局部放电和电树性为基础的对其绝缘性进行评估的方法。为了这个目的，构造了交联聚乙烯中压电缆绝缘模型，使模型尽可能可行地接近实际电缆。 2.实验部分 测试了三种类型的电缆绝缘：①高岭土填充，蒸汽交联的交联聚乙烯(型号ELKEN 2003-10，ELKA Zagreb，实验数量)；②无填充材料，蒸汽交联的交联聚乙烯(型号HFDM 4201 BP)；③无填充材料，热氮交联得到的交联聚乙烯(HFDM 4201 BP)。 绝缘体：①由低密度的交联聚乙烯组成，无机高岭土填充，添加剂（抗氧化剂，过氧化氢）总体比例为100：20：5。紧随电缆制造，相对于其他电缆标本，具有填料的绝缘电缆具有较高的损耗角正切（tgδ）值为（6.5×10-3）（见表1）。电缆样品经过热处理（90℃/60h），低分子量的添加剂与绝缘体分离且损耗角正切（tgδ）降低至2.5×10-4。室温储存期为一年的电缆样品也发现tgδ值同样的减少。此外，在一般情况下，主要是由于填料的存在，无填料的电缆其他的电性能甚至比有填料的电缆（如表1）更好一些。然而，填料却常常用于交联聚乙烯（ELKEN 2003-10）以降低成本，并且提高了电缆绝缘在其工作温度下的机械性能（Shintic1986）。 表1 被测绝缘的电气性能 性能 电缆样品 Ⅰ Ⅱ Ⅲ 介电常数（50Hz，20℃） 2.38 2.30 2.30 损耗角正切tgδ×10-4（50Hz，20℃） 25.10 6.30 5.10 电阻率×1015（20℃）Ωm 0.82 2.20 3.20 Weibull率为63.2%时的击穿强度kV/mm* 55.20 70.50 -- -- 在NaCl溶液中老化后，Weibull率为63.2%时的击穿强度kV/mm** 43.90 32.90 -- -- 寿命曲线系数n t = k x U –n 15±3 12±2 -- -- *为0.9毫米绝缘介质厚度的中压电缆模型，试件有效长度为1.5米，电压的升高速度为1千伏/秒的情况下测得的电击穿强度。 **为样品在0.01N NaCl溶液中浸泡同时暴露在电压（13 KV，50Hz）和热循环（16 h/65℃至8 h/20℃）超过1000小时时的电击穿强度。 Tanaka 1986）。化学分解的能量来源来自气体（加速带电粒子轰击，热传导）和静电场的能量释放的能量。电树形成的整个过程可以分为两个不同的阶段：①生成阶段②增长阶段。每个阶段的相对持续时间因情况不同而不同，在每一种情况下形成的树的形状是由相对时间差确定的（Ku和Liepins1987年）。 图1 试棒（XLPE电缆绝缘切棒） 1. 高压钨针电极，2.第一半导层，3.绝缘层，4.第二半导层（接地电极）(Mc Mahon 1978)进行测试。按以下步骤准备表1中的测试用试样：将一个针尖半径r = 5 + 0.5μm的钨针插厚度3.4mm的电缆电介质切片中到固定的深度。Ui，电树最大长度记作l，树状结构生长过程中局部放电所表现出的特性（表层最大放电量记作Qm，局部放电频率记作N）。在10-13C的环境下，用多道脉冲幅度分析仪对局部放电的特性进行测量。上述测试在50Hz的交流电和室温情况下完成。 取局部放电稳定时，试验（局部放电频率记作N≥10s-1，表层最大放电量记作Qm≥10-12C）获得的电压平均值作为Ui。通过一步步升高测试电压来确定Ui的值，每次电压升高值为1kV，每一步的持续时间为1min。Ui值可通过一下公式计算： Ui=(Un+Un-1)/2 （1） 式中：Un为在Qm≥10-12C，N≥10s-1的情况下第n步所测的的局部放电量。在实验确定的Ui值的基础上，选择试验用电压值和Qm的时间间隔，N以及被测量。 3.结果与讨论 在局部放电的基础上，可确定有填充的电缆（Ⅰ）比无填充的电缆（Ⅱ和Ⅲ）具有更低的Ui值，他们Ui比值为2.5：6.5：12.5（kV）