电工实验 集成门电路逻辑变换及应用.pptVIP

1.检查连接导线； 2.测试芯片的逻辑功能； 3.按逻辑电路图连接电路； 4.按所设计的真值表操作电路输入端，观察输出端，验证结果； 5.得出实验结论； 6.电路故障的排除（用逐点测试法）。 （1）芯片是否出现故障, （2）每一根导线是否导通； （3）芯片和导线是否完全插入实验板中；先检查芯片上的“电源”和“地”是否接对；有没有电压，用万用表测量。 （4）所搭电路的连线是否正确； 接电路时，要断开电源；接好电路，确认无误通电；做完实验后，关掉电源，再拆电路。 六、注意事项 1. 实验前：用万用表“欧姆挡”或“蜂鸣档”检测导线，每次使用完，应将万用表置于测电压档位。 2.电路连线时，先连芯片的电源和地的管脚，再连接其他管脚。 3.TTL芯片的多余输入端的处理 ： 悬空为高，但不稳定，需按逻辑要求接入电路； 输出端的处理 ： 一般不允许并联使用，不允许直接接地或接5V电源； 4.注意仪器设备和电路的地要共地。 5.严禁带电操作。 实验5.3.1 集成门电路的逻辑变换及应用 一、实验目的 1.熟悉数字实验箱和双踪示波器的使用方法。 2.掌握集成与非门的逻辑功能及其测试方法。 3.掌握由集成与非门组成其他逻辑门电路的方法并测试其功能 4.门电路对数字信号传输的控制作用。 5.进一步理解集成与非门逻辑电路的设计过程。 6.学习查阅集成电路器件手册，熟悉集成与非门的外形和管脚。 二、实验器材 数字逻辑实验箱 1台 双踪示波器 1台 数字万用表 1台 74LS00 2块 74LS20 1块 1．检查与非门的功能。 2．用与非门组成其他逻辑门电路并测试功能。 （1）用与非门组成与门。 （2）用与非门组成或门。 （3）用与非门组成或非门。 （4）用与非门组成异或门。 （5）用与非门组成同或门。 3．测试控制门的功能。 ＆ A B 控制端 波形由实验箱中时钟信号提供 三、实验内容 四、电路连接步骤 电路故障的排除方法 蜂鸣档 1. 测试导线 （1）管脚识别 2. 测试芯片 Quad 2-input NAND Gate 门电路的测试(以74LS00为例) 将管脚1、2、4、5、9、10、12、13依次分别接电平开关，管脚3、6、8、11分别接电平显示，将电平开关按真值表置位，分别测输出电压及逻辑状态。 将14脚（VCC）接通5V电源，将7脚（GND）接地，用万用表测14脚与7脚间应有5V电压； 数字实验箱介绍 五、实验仪器应用 集成电路有缺口一侧向左 输入是高电平的时候指示灯亮 开关打在上面的时候，输出为高电平；反之，输出为低电平 TTL： （1）工作电压 ：5V+10%； （2）多余输入端的处理 ： 悬空为高，但不稳定，易受干扰，需按逻辑要求接入电路； （3）输出端的处理 ： 一般不允许并联使用，不允许直接接地或接5V电源。 CMOS： （1）工作电压 ：+3V--+18V , （2）多余输入端的处理 ： 所有输入端都不允许悬空,不使用的输入端应按逻辑电平要求通过电阻接电源或地； （3）输出端的处理 ： 输出端不允许直接与电源或地连接,同一芯片上的输出端可以并联使用 。 （4）输入信号幅度不能超过VDD—VSS。 TTL与CMOS * *