光源性能测试方法及装置相关专利简介.pdfVIP

中 国 照 明 电 器 CHINA LIGHT ＆ LIGHTING 33 2010年第 2期 光源性能测试方法及装置相关专利简介 陶 梅 摘编 特性检测装置对 固定在检测样品座上的样 品进行检 1 一种温变环境下光源的光学性能参数的测试系统 测 ，并将检测信号传输至测控装置 ；数据处理器从测 公开 (公告)号 ：CN101419119 控装置中读取检测信号并对其进行分析处理。本发 摘要 ：本发明公开的温变环境下光源的光学性能参数 明解决了 目前 LED检测仪器所普遍存在 的集成度 测试系统，包括 CPU处理模块、光功率计、光谱仪、光 低、检测程序复杂等 问题，发光特性综合检测能力更 偏振度仪 、显示模块、EVOA衰减器 、分束器和电源模 为全面 ，并有效实现了在线连续检测功能。 块 、温度计接 口、光学接 口和光源驱动接 口。该光源 4 一种 PWM 驱动技术下 LED瞬时光通量的测试 的光学性能参数测试 系统能在温度变化环境 中(一 方法及装置 40～80~C)有效测试光源的输 出功率 、光谱 、偏振度 和温度值 ，并可得到中心波长和半峰值全带宽，具有 公开 (公告)号 ：CN101430223 实时性好 、功能多、使用方便等优点，能广泛应用于 摘要 ：一种 PWM驱动技术下 LED瞬时光通量的测试 850～1650nm的光源在温变条件下的光学性能测 方法及装置 ，属测量领域。包括采用积分球法对待测 试 中。 LED的光通量进行测量，其在常规光谱分析系统装 置的基础上 ，再设置一套 由信号采集部分、信号转换 2 一种LED光源光强空间分布特性测试装置及测 部分和数据处理部分组成 的采集系统，其通过测量 试方法 PWM脉冲驱动下待测 LED的瞬时光通量 ，再乘 以 公开 (公告)号 ：CN101566500 PWM脉冲信号 的 占空 比，进而得到 PWM脉冲驱动 摘要 ：本发明提 出一种 LED光源光强空间分布特性 下待测 LED的平均光通量。其以现有测试设备为基 测试装置及测试方法 ，包括基座、测试样品座 、光度探 础，与传统测试方法不背离 ，不引起新的近场吸收，且 测单元 、探测器支架 、测试 电路 、计算机和测试软件。 能响应脉冲驱动的瞬时峰值信号，测量在热平衡条件 其采用多个光度探测单元多路同步测试方法 ，取代 1 下 LED的瞬时光通量 ，并能实现脉冲驱动功率变化 个光度探测器依次进行多点测试 ，实现 LED光源的 时的动态测量 。可广泛用于各种 LED发光器件和 ／ 光强空间分布特性地快速测试。相对于采用一个光 或 PWM脉冲驱动装置的性能测试 、标定领域。 度探测器的传统配光曲线测量方法 ，如果选用 N个 5 光通量计及总光通量的测量方法 光度探测器，测试速度可提高N倍 以上，具有测试速 度快 ，精度高，信息量丰富，更具有实时性和直观性的 公开 (公告)号 ：CN101419091 显著优势。 摘要 ：本发明涉及光通量计及总光通量 的测量