有参数约束两两组合覆盖测试用例生成研究.pdfVIP

有参数约束的两两组合覆盖测试用例生成的研究 1,2 1 1 2,3 曾劲涛 崔志明 陈建明 李金忠 1苏州大学 智能信息处理及应用研究所 苏州（215006） 2井冈山学院 信息科学与传媒学院 吉安（343009） 3广西大学 计算机与电子信息学院 南宁（530004） E-mail :rarehorse@163.com 摘 要 对组合覆盖测试用例生成的研究已不少见，但考虑有参数约束情况的并不多。本 文针对有参数约束的两两组合覆盖测试用例生成的问题，提出了 n参数约束的概念，证明 了 n参数约束与二参数约束之间的等价转换关系；同时提出了一种基于 IPO策略的有参数 约束的两两组合覆盖测试用例生成算法，并与经典的 AETG方法作比较，实验表明该算法在 某些待测软件系统上可以得到比 AETG方法更小的测试集；另外，该算法的确定性组合的特 性使其在实际应用中可以更有效地降低测试成本。 关键词 软件测试，组合覆盖，测试用例，测试集，参数约束 1 引言 两两组合覆盖测试方法是一种科学、实用和有效的测试方法. 该方法基于以下基本事实: (1) 软件系统的故障往往是由一些难以预料的系统因素及其相互作用而引起的,为了检测这 些故障,必须设计一组测试用例,对系统因素的各种组合情况进行充分覆盖的测试; (2) 由 于受到时间、费用等资源的限制,我们必须在数量庞大的各种组合情况和有限的资源之间作 出一种科学、优化的选择; (3) 研究发现,有20%～40 %左右的软件故障是由某个系统参数引 发,20 %～40 %左右的故障由某两个参数的相互作用引发,而大约70 %的软件故障是由一个或 两个参数的作用引起的[1] ; (4) 两两组合覆盖测试是一种覆盖任意单个系统因素、任两个系 统因素间的组合以及尽可能多的多个因素间组合的方法. 因此,两两组合覆盖测试方法具有 很重要的应用价值[2] 。目前,关于两两组合覆盖测试方法的研究主要集中在测试用例生成方 法方面，例如Williams[3,4]、AETG[5,6]、IPO[7,8]、和PSST[11]等方法。但是这些方法中大多数未 考虑有参数约束的情况。在AETG中讨论过有参数约束的情况，并给出了一个解决方案，但效 果并不理想。针对这一现状，本文对有参数约束的情况进行了研究，并给出了一种基于IPO 策略的算法。 2 基本概念 设待测软件系统SUT(Software Under Testing)的参数个数为n ，并假定每个参数P 可在有 i 限离散点集T 中取值，T 中有t 个元素：t =|T |(1≤i≤n). i i i i i 定义 1 称n元组（p ，p ，…,p ）为SUT的一个测试用例，其中p ∈T ，p ∈T ，p ∈ 1 2 n 1 1 2 2 i Ti (3≤i≤n)。 定义2 对某个SUT生成的测试用例的集合称为该SUT的测试用例集，简称测试集。 定义3 对于某个SUT的测试集，如果该测试集覆盖了这个SUT的任意两个参数的所有取 值的两两组合，称该测试集为两两组合覆盖测试集。 定义4 称包含一个SUT的所有参数的部分或全部取值的关联表格为关联表。 定义5 如果一个SUT的某两个参数之间的某个取值组合存在约束，即该取值组合禁止在 一个测试用例中出现，则称该约束为二参数约束。 定义6 对于一个SUT的某n个参数的一组取值，如果这组取值中的任意(n-1)个值形成 1 (n-1)参数约束，则称该组取值形成n参数约束。