谐振器品质因数精确测试.pptVIP

同轴谐振器品质因数的精确测试－临界点法 品质因数定义 传输式品质因数测试－电路模型 传输式品质因数测试－阻抗关系 传输式品质因数测试－QL和Q0的关系 传输式品质因数测试－S21 传输式品质因数测试－Q0 传输式品质因数测试－Q0测试误差及措施 反射式品质因数测试－等效电路 反射式品质因数测试－临界点定义 反射式品质因数测试－Q圆 反射式品质因数测试－Q0计算 临界点法仿真结果示意图 临界点法实测结果示意图 临界点法仿真提取比较（1） 临界点法仿真提取比较（2） 临界点法仿真提取比较（3） 临界点法仿真提取比较（4） 实测谐振频率对Q0的影响 技术培训 技术培训 对于高Q谐振器，应用窄带近似得： 校准 / 相位修正 传输线时延 曲线拟合中的圆图失真 / 融入电路模型 输入输出的交叉干扰 融入电路模型 传输线和接头损耗 融入电路模型 耦合结构的损耗和电抗 曲线拟合 噪声 措 施 寄 生 参 数 随着探针的长度的增加，S11的圆图轨迹半径逐渐增大 当外部耦合非常弱的情况下，S11导纳圆已经分辨不出 腔体尺寸35×35×50，谐振杆φ11×φ8×49，螺钉φ4×6.5，DIN头，Tap高度25。 Q0 =3959.58@936.36MHz 5.88 3726.82 931.715 931.59 931.84 8 1.66 3893.93 934.61 934.485 934.725 4 1.27 3909.38 934.4 934.282 934.521 2 0.98 3920.84 933.225 933.106 933.344 1 0.92 3923.12 933.76 933.643 933.881 0.5 Δ Q0 % Q0 F0 (MHz) F2 (MHz) F1 (MHz) Len (mm) 腔体尺寸35×35×35，谐振杆φ10×φ8×29，螺钉φ4×1，DIN头，Tap高度17.5。 Q0 =5467.28@2010.8MHz 6.16 5130.4 1959.84 1959.651 1960.033 8 2.33 5340.12 1997.23 1997.044 1997.418 4 1.06 5409.17 2001.42 2001.236 2001.606 2 0.76 5425.81 2002.15 2001.968 2002.337 1 0.5 5440.13 2001.99 2001.81 2002.178 0.5 ΔQ0% Q0 F0 (MHz) F2 (MHz) F1 (MHz) Len (mm) 临界点法与带连接器和探针的同轴腔本征模的比较 本征模 临界点法 1.98 3802 935.109 3726.82 931.715 8 0.05 3896 935.309 3893.93 934.61 4 0.47 3928 935.92 3909.38 934.4 2 0.28 3932 935.775 3920.84 933.225 1 0.15 3929 935.659 3923.12 933.76 0.5 Δ Q0 % Q0 F0 (MHz) Q0 F0 (MHz) Len (mm) 临界点法与同轴谐振器外载Q值的比较 外载Q值 临界点法 322 930.53 3726.82 931.715 8 902 934.032 3893.93 934.61 4 1299 934.444 3909.38 934.4 2 1504 934.711 3920.84 933.225 1 1598 934.717 3923.12 933.76 0.5 ΔQ0% QL F0 (MHz) Q0 F0 (MHz) Len (mm) 技术培训