TTL集成逻辑与非门参数测试.pptVIP

* * 实验九 TTL集成逻辑与非门 参数的测试实验 实验目的 实验原理 实验参考电路 实验预习要求 实验内容和步骤 实验注意事项 TTL使用注意事项 实验设备与器材 实验思考题 实验报告要求 一 实验目的 了解TTL与非门各参数的意义。 掌握TTL集成与非门主要参数的测试方法。 掌握TTL器件的使用规则。 二 实验原理 随着现代电子技术的飞速发展，集成电路具有体积小、重量轻、可靠性高、寿命长、功耗小、成本低和工作速度快等优点，因此它在数字电路领域中，几乎取代所有分立元件电路。集成逻辑门是构成各种数字电路的基本逻辑单元，而TTL与非门是目前使用较普遍的一种基本逻辑门电路。与非门主要参数的测量是选择器件与设计逻辑电路时必须掌握的。 本实验采用74系列双列直插式四－2输入TTL与非门74LS00集成芯片进行参数测试，其外形引脚排列及逻辑符号如图2-1-1所示。 图2-1-1 74LS00外形引脚排列和TTL与非门逻辑符号 （1）平均功耗P TTL与非门工作于开态（输出低电平）和关态（输出高电平）时，电源电流值是不同的。电路处于稳定开态时的空载功耗称为空载导通功耗PL： PL =IEL ×VCC 式中，IEL —— 空载导通电源电流； VCC —— 电源电压。 测试条件：与非门的输入端悬空，输出空载，VCC=5V。 电路处于稳定关