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纳米材料的界面分析 物质的尺寸到了纳米级别后由于表面电子能级的变化,导致纳米材料具有许多奇特的性能,从而使其具备奇异性和反常性,能使多种多样的材料改性,用途极为广泛. 纳米效应包括的表面效应，量子尺寸效应，体积效应，宏观量子隧道效应界面相关效应等 表面效应 纳米材料尺寸小.表面能高,位于表面原子占相当大的比例,随着原子粒径的减小,表面原子数目迅速增加,原子配位数不足和高的表面能使这些原子具有高的活性.极不稳定和容易与别的原子结合. 量子尺寸效应 能级间距随着原子尺寸的减小而增大,当热能磁场能和电场能比平均能级间距还小时,就会呈现和宏观物体截然不同的特性称为量子尺寸效应. 体积效应 当超细微粒的尺寸和波长与光波波长和的布罗意波长等物理尺寸相当或更小时,晶体周期性边界条件被破坏,导致声,光,电磁,热力学等特征方面出现一些新的变化. 宏观量子尺寸效应 是指纳米颗粒具有贯穿是累的能力，界面相关效应,纳米结构材料中有大量的界面,具有反常高的扩散率,比如纳米铜材料的超塑性. 纳米材料是处在0.1—100nm尺寸范围内，用肉眼和普通显微镜难以观测其显微结构。纳米微粒尺寸的表征，由于实验手段的不一，采用的表征技术各异，各种方法间有一定的差异。这里，我们来描述几种表示方法。 一、Ｘ射线法 在多相催化的催化剂研究中，往往需要对催化剂的活性组分及载体进行晶粒大小测定，因为催化剂的性能如活性、选择性、比表面积、孔容、强度及寿命等都直接与其晶粒大小有着密切的关系。在研制新催化剂制备工艺条件或对已使用过的催化剂了解其物性变化、机械强度、失活原因等，也需要考虑其晶粒大小的变化，所有这些都需要晶粒大小的测定。 电镜观察法测量的是颗粒度而不是晶粒度，X-射线衍射线宽法是测定颗粒晶粒度的最好方法。它具有简便、快速和直观的优点。当颗粒为单晶时，该法测得的是颗粒度；当颗粒为多晶时，该法测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶粒度。 许多物质实际上是由许多细小晶体紧密聚集而成有二次聚集态，这些细小的单晶称为一次聚集态，即晶粒。当晶粒在200nm以下，晶粒中晶面数目减少，衍射线条弥散而产生明显的宽化，晶粒越小，衍射线条的宽化越严重，使衍射强度在2θ+Δθ范围内有一个较大分布。当晶体内不存在应力和缺陷时，可以利用晶粒大小与衍射线宽化程度的关系来测量晶粒大小。 这种方法只适用于晶态的纳米粒子晶粒度的评估。实验表明，晶粒度小于50nm时，测量值与实际值相近，反之测量值往往小于实际值。 当d很小，由于d的下降可使射线宽化衍射线半高强度处的线宽度B与晶粒尺寸d的关系为： d=0.89λ/Bconθ 该式也称谢乐（Scherrer）公式。式中d-晶粒大小，表示晶粒在垂直于hkl晶面方向的平均厚度，nm；λ-X射线波长，m;θ-布拉格角（半衍射角）；B-单纯因晶粒细化引起的宽度变化（单位为弧度） B为实测宽度Bm与仪器宽化Bs之差 B=Bm-Bs 1）Bs可通过测量标准物（粒径＞104的半峰强度的宽度得到 2）Bs与Bm分为尽量靠近。 3）最好选取与纳米粉相同的粗晶 这里我们应该注意的问题有： 1）应选多条低角度X-射线衍射线（2θ ≤50）计算求平均的d 2）当d很小时，d为纳米表面张力增加，颗粒内的压力p=2γ/r，会使颗粒内部产生第二类畸变导致宽化，因此应从半高宽Bm中扣除该畸变。 二、比表面积法 　比表面积是指单位质量物料所具有的总面积。分外表面积、内表面两类。国标单位㎡/g d=6/ρSm 式中：ρ为密度，d为比表面积直径， Sm的一般测量方法为BET多层气体吸附法。BET法是固体比表面积测定的常用的方法。 三、小角衍射法 全称为：X射线小角散射法（Small Angle X-rayScattering）SAXS。在纳 米范围内，颗粒大小及其分布、颗粒形状及其形状分布通常用电子显微镜来观察。该方法的严重缺点是制样复杂，探测区域太小； 小角散射这种方法的优点是不用特殊的方法制备，可分析员是样品，测量区域大测量数据真实的反映了样品的实际情况。 小角散射是指X射线衍射中倒易点阵原点(000)结点附近的相干散射现象，散射角大约为10-2~10-1Rad数量级。衍射光的强度，在入射光方向最大，随衍射角增大而减少，在ε0 角度处则变为0，与波长λ和粒子的平均直径d之间近似满足下列关系式： ε0= λ/d 3.在实际测量中，假定粉体粒子为均匀大小的，则散射强度I与颗粒的重心转动惯量的回转半径R的关系为： 式中：α为常数，R与粒子的质量及它相对于重心的转动惯量I0的关系满足下式 如果得到lnI-ε2，由直线斜率得到R 如颗粒为球形，则： 式中：r为球半径，由式1.6和式1.7可求得颗粒的半径。 X射线波长一般在0.1nm左右，而可测量的在1