X射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用论文.pdfVIP

第18卷第1期 无机材料学报 Vol·18，No-1 Journalof Materials Jan，2003 2003年1月 Inorganic 文章编号：i000-324X(2003)01—0019—08 x射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用 卓尚军，陶光仪，吉 昂，盛 成，申如香 (中国科学院上海硅酸盐研究所，上海200050) 摘要：介绍了x射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析中的应用．虽然x射线荧光光谱分 析是一种非常有效的元素分析手段，但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方 法，选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正．在样品为单晶时异常反射对光谱的定性 解释和定量分析的条件选择可能产生影响，此时最好使用熔融制样法．使用测量结果时，应该 充分考虑其不确定度． 关键词：x射线荧光光谱，晶体，定量分析I测量不确定度．