关于扫描链的FPGA互连测试.pdfVIP

摘要 在这篇论文中，我们分析了SRAM—based的FPGA的结构特点，其中重点分 析了互连结构和互连资源。另外，我们引入-FDFT的概念，并分析了ASIC设计 流程中，D订户斤考虑的问题，这里包括故障模型，扫描链和全扫描测试。对于 FPGA测试，我们首先根据FPGA狈I]试的环境，测试的对象，和测试方法将 FPGA谀I]试分成了不同的种类，并分析不同测试的特点。 在本文中，我们将重点讨论FPGA中互连资源的测试。这里我们采用了基 于扫描链的互连资源测试，同时引入Buffered．WUT的概念用以压缩测试 CONFIG的数量。我们用TILE中的可编程资源构建扫描链，并根据GRM中的开 关方向，将测试分为水平向测试，垂直向测试，左倾测试及右倾测试。我们的 工作重点放在水平向测试。 ． 在具体工作中，首先将原始FPGA电路建模成gate．1evel网表，并对每个 取和测试向量生成，并产生相应的testbench。在remodel之后的网表上进行扫描 链和测试向量的仿真验证。 扫描链提取结果表明在单一行TILE中，两条扫描链提取成功，每个扫描链 1的配置下，7个测试向量的 上有95个扫描单元。ATPG结果表明，在CONFIG 故障覆盖率为84．53％。这个结果说明，初边角处的开关，剩下的所有水平方向 开关都可以在一个CONFIG下被测试。而剩余的25％的故障将在余下的2个测 试CONFIG中被测试到。 关键字：FPGA扫描链互连测试remodel 中图分类号：TN4 3 Abstract make Inthe ofthis an onstructureofS洲一bQsed begin thesis，we analysis oninterconnectstructureandresource．弧eofDFris FPGA，especiany concept in introducedthenext fault full word．Involvingmodel，scanchain，andpost scan，we whatshouldbeconsideredwhenwe DFT test present inASIC flow．The accept design into ofFPGAoreclassifieddifferentdassbasedonthecircumstanceof testing,the of andthemethodof characteristicof is targettesting every testing．ne testing inthethesis． explained Here．wefocusourworkonthe ofinterconnectresource．Widl testing accepting the of willtestinterconne