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计 算 机 组 成 原 理
实 验 指 导
实验一 运算器组成实验
算术逻辑运算实验
实验目的
掌握简单运算器的数据传送通路。
2.验证运算功能发生器(74LS181)的组合功能。
二.实验设备
TDN-CM++计算机组成原理教学实验系统一台,排线若干。
三.实验内容
实验原理
实验中所用的运算器数据通路如图1-1所示。其中运算器由两片74LS181以并/串形式构成8位字长的ALU。运算器的输出经过一个三态门(74LS245)和数据总线相连,运算器的两个数据输入端分别由二个锁存器(74LS373)锁存,锁存器的输入连至数据总线,数据开关(“INPUT DEVICE”)用来给出参与运算的数据,并经过一三态门(74LS245)和数据总线相连,数据显示灯(“BUS UNIT”)已和数据总线相连,用来显示数据总线内容。
图中已将用户需要连接的控制信号用圆圈标明(其他实验相同,不再说明),其中除T4为脉冲信号,其它均为电平信号。由于实验电路中的时序信号均已连至“W/R UNIT”的相应时序信号引出端,因此,在进行实验时,只需将“W/R UNIT”的T4接至“STATE UNIT”的微动开关KK2的输出端,按动微动开关,即可获得实验所需的单脉冲,而S3、S2、 S1、S0 、Cn、M、LDDR1、LDDR2、ALU-B、SW-B各电平控制信号用“SWITCH UNIT”中的二进制数据开关来模拟,其中Cn、ALU-B、SW-B为低电平有效,LDDR1、LDDR2为高电平有效。
图1-1 运算器数据通路
实验步骤
连接实验线路,仔细查线无误后,接通电源。
用二进制数码开关向DR1和DR2寄存器置数。具体操作步骤图示如下:
ALU-B=1 LDDR1=1 LDDR1=0
SW-B=0 LDDR2=0 LDDR2=1
T4= T4=
检验DR1和DR2中存的数是否正确,具体操作为:关闭数据输入三态门(SW-B=1),打开ALU输出三态门(ALU-B=0),当置S3、S2、 S1、S0 、M为11111时,总线指示灯显示DR1中的数,而置成10101时总线指示灯显示DR2中的数。
验证74LS181的算术运算和逻辑运算功能(采用正逻辑)
在给定DR1=65、DR2=A7的情况下,改变运算器的功能设置,观察运算器的输出,填入下表中,并和理论分析进行比较、验证。
表1-1
DR1
DR2
S3 S2 S1 S0 M=0(算术运算)
M=1
(逻辑运算) Cn=1
无进位 Cn=0
有进位 65
65
65
A7
A7
A7
0000
0001
0010
0011
0100
0101
0110
0111
1000
1001
1010
1011
1100
1101
1110
1111 F=(65)
F=(E7)
F=(7D)
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( ) F=(66)
F=(E8)
F=(7E)
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( ) F=(9A)
F=(18)
F=(82)
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
F=( )
进位控制实验
一.实验目的
1.验证带进位控制的算术运算功能发生器的功能。
2.按指定数据完成几种指定的算术运算。
二.实验设备
TDN-CM++计算机组成原理教学实验系统一台,排线若干。
三.实验内容
实验原理
图1-3 进位控制实验原理图
进位控制运算器的实验原理如图1-3所示,在实验(1)的基础上增加进位控制部分,其中181的进位进入一个74锁存器,其写入是由T4和AR信号控制,T4是脉冲信号,实验时将T4 连至“ STATE UNIT”的微动开关KK2上。AR是电平控制信号(低电平有效),可用于实现带进位控制实验,而T4脉冲是将本次运算的进位结果锁存到进位锁存器中。
实验步骤
连接实验线路,仔细查线无误后,接通电源.
用二进制数码开关向DR1和DR2寄存器置数,具体方法:
① 关闭ALU输
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