第八章统计过程控制.ppt

不合格品数控制图－np图 np图用来度量不合格项的数量 1．收集数据 2．计算控制限 （1）计算过程不合格数的均值 （2）计算上控制限 （3）计算下控制限 3．过程控制和过程能力 缺陷控制图－c图 c图用来测量一个检验批内的不合格（或缺陷）的数量。 1．收集数据 2．计算控制限 （1）计算过程缺陷数均值 （2）计算上下控制限 3．过程控制和过程能力 =（c1+ c2+… cK）/K 缺陷率控制图－ u图 当子样容量多于“一个单位产品”，和样本容量不同时，必须采用u图来分析过程特性。 1．收集数据： 2．计算控制限 （1）计算每单位产品过程平均缺陷率 （2）计算上下控制限 单位产品缺陷数 u=c/n 如果某些子样的样本容量与平均样本容量的差超过正负25%，则： 3．过程控制和过程能力 UCLu= LCLu= * 过程控制分析 极差图数据点的分析 （1）超出控制限的点。 过程控制分析 数据链 过程控制分析 明显的非随机图形 过程控制分析 识别并标注特殊原因 重新计算控制限 控制图找问题 统计工具分析问题 措施解决问题 排除失控原因 新控制限、平均值和子样极差 不准确 不精密 ? 准确 精密 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 均值与极差 均值控制图分析 （1）超出控制限的点。 均值控制图分析 （2）数据链 均值控制图分析 （3）明显的非随机图形 均值控制图分析 （4）识别和标注特殊原因。 （5）重新计算控制限。 （6）为了继续进行控制延长控制限。 子样容量的变化 ① 根据当前样本 估计过程的标准偏差 ② 按新子样容量查表得到A2、D3、D4和d2，然后计算新的平均极差 = ×d2 计算均值控制图和极差控制图中心线和上下控制线： 过程能力解释 控制图研究过程是否处于统计控制状态，仅仅是第一步，更重要的是研究过程能力，即过程满足要求程度。 恰好满足 能力有余 能力不足 上偏差不满足 计算过程能力 （1）过程标准差： 条件（过程的均值和极差都处于统计控制状态） （2）计算过程能力： 单边容差的计算： 或 式中，SL——规范界限； ? USL——为规范上限； LSL——规范下限； ——样本均值； ——按极差平均值估计的过程标准差； 双边容差的计算： 过程能力指数定义为： 计算过程能力 计算过程能力 如果过程分布与技术规范公差中心重合，则 如果过程分布中心与技术规范公差中心不重合，则 计算过程能力 过程能力应该适当，即对过程标准差要求要适当，要保证充足的过程能力，又要考虑实际情况和顾客等要求。过程不能过大，即存在生产精度与要求相比过高，存在较大浪费。 过程能力指数 过程等级 过程能力推断 CP＞1.67 1.33＜CP≤1.67 1.00＜CP≤1.33 0.67＜CP≤1.00 1.00＜CP≤1.33 特级 1级 2级 3级 4级 过于充足 充足 尚可 不足 严重不足 过程能力 普通原因变差 P272例 －S 控制图 S：子样标准差 ③ 子样本容量较大，计算极差已不是很快捷的方法了。 用s图取代R图的情况 ① 可采用计算机辅助记录、计算和绘图； ② 可方便地采用计算器计算s； 子样标准差计算公式 控制限计算： －S 控制图 过程能力分析： s －R 控制图 中位数 －R 控制图优点： （1）中位数不要求很多计算，可以使车间工人易于接受控制图方法； （2）中位数图可显示过程输出的分布宽度并且给出过程变差的趋势； （3）一张图上可显示中位数及分布宽度，所以它可用来对几个过程的输出或同一个过程的不同阶段的输出进行比较； 中位数的均值 极差的均值 中位数的上下控制限： －R 控制图 过程标准偏差： x-MR图 单值－标准差控制图特点： （1）单值控制对于检查过程变化没有 -R控制图敏感； （2）如果过程分布不是对称的，则在解释单值控制图时要非常小心； （3）单值控制图不能区分过程零件间的重复性。 （4）移动极差也没有负值，即没有移动方向，不论谁先出现谁后出现， 总是较大值减去较小值； （5）每一子样仅有一个值，因此 和 会有较大变异性。 MR－移动极差 计算控制限 x-MR图 过程的标准差： 过程能力和过程性能理解 （1）过程固有变差。 （2）过程总变差。 （3）过程能力。 （4）过程性能。 6 过程术语的定义 （1）CP：过程能力指数 过程指数 过程能力和过程性能理解 （2）PP：性能指数 CPU：上限能力指数 CPL：下限能力指数 PPK是考虑有偏移时的过程性能指数， PPK是以下两式计算结果的较小值 计数型控制图 计数