基于微分环干涉技术的光纤长度测量系统.pdfVIP

2010年第7期 中图分类号：TP212 文献标识码：A 文章编号：1009—2552f2010)07—0104—03 基于微分环干涉技术的光纤长度测量系统 吴东方，张天照，董 翔 (上海八运水科技发展有限公司，上海 200070) 摘 要：设计了一种利用全光纤干涉系统来精确测量光纤长度的方法。该系统主要 由3×3光纤 耦合器构成的双光纤微分环和起到相位调制作用的压电陶瓷组成，在微分干涉原理的基础上， 对各 自通过参照光纤和待测光纤形成的干涉光信号进行相位解调，从而求得待测光纤的长度。 实验结果表 明测量的光纤长度和 已知值一致。 关键词：光纤；长度测量；微分环；3×3耦合器；压电陶瓷 Thedifferentiating-ringinterferometerformeasuring opticfiberlength WU Dong—fang