仪器分析 复习 重修 自学 预习5 原子吸收光谱分析法.pptVIP

四、光学系统 1.作用 ：将待测元素的共振线与邻近线分开。 2.组件： 色散元件（棱镜、光栅），凹凸镜、狭缝等。 3.单色器性能参数： （1）线色散率（D）：两条谱线间的距离与波长差的比值ΔX/Δλ。实际工作中常用其倒数 Δλ/ΔX （2）分辨率：仪器分开相邻两条谱线的能力。用该两条谱线的平均波长与其波长差的比值λ/Δλ表示。 （3）通带宽度（W）：指通过单色器出射狭缝的某标称波长处的辐射范围。当倒色散率（D）一定时，可通过选择狭缝宽度（S）来确定： W=D?S 1、外光路系统 使光源发出的光线在原子蒸汽中成象，再由第二透镜将光线聚焦到单色器的入射狭缝上。 2、分光系统 由入射狭缝,光栅,反射镜和出射狭缝组成. 目的是将共振线和邻近谱线分开。 锐线光源的谱线比较简单,因此不需要很高色散能力。要求适当的光栅色散率和狭缝宽度相结合，构成适宜测定的通带。 五、检测系统 主要由检测器、放大器、对数变换器、显示记录装置组成。 1. 检测器-------- 将单色器分出的光信号转变成电信号。 如：光电池、光电倍增管、光敏晶体管等。 分光后的光照射到光敏阴极K上，轰击出的光电子又射向光敏阴极1，轰击出更多的光电子，依次倍增，在最后放出的光电子比最初多到106倍以上，电流经负载电阻转变为电压信号送入放大器。 2.放大器------将光电倍增管输出的较弱信号，经电子线路进一步放大。 3. 对数变换器------光强度与吸光度之间的转换。 4. 显示、记录 一、光谱干扰 二、物理干扰 三、化学干扰 第三节 干扰及其抑制 一、光谱干扰 待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，这类干扰主要来自光源和原子化装置，主要有以下几种： 1.在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线。 可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰。 2.空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射。 换用纯度较高的单元素灯减小干扰。 3.灯的辐射中有连续背景辐射。 用较小通带或更换灯 二、与原子化器有关的干扰 1、火焰本身或原子蒸汽中待测元素的发射（产生直流）：提高光源发射强度来改善。 2、背景吸收（分子吸收）原子化器中气态分子对光的吸收所产生。 火焰中OH，CH，CO等的吸收；波长越短吸收越严重，但一般对分析结果影响不大，可以通过调节零点或改换空气-氢气等火焰解决。 金属的各种盐分子的吸收；低温或空气-乙炔焰中比较明显，高温减弱。 背景吸收波长越短吸收越严重，基体元素浓度越大越增加；还和火焰条件有关，无火焰原子化器背景吸收更严重。 校正方法： 1、用邻近非共振线校正背景 因为背景吸收是宽频带吸收，所以用分析线测量原子吸收与背景吸收的总吸光度，因邻近非共振线不产生原子吸收，用它来测量背景吸收的吸光度。两者之差值即为原子吸收的吸光度。 2、用与试样溶液有相似组成的标准溶液校正 3、分离基体消除影响 4、氘灯校正 使用连续光源时，吸收线对连续辐射的吸收可以忽略，因此通过原子化器时连续辐射强度的衰减是由于背景吸收或散射所造成的。 （1）用锐线光源测定分析线的原子吸收和背景吸收的总和。 （2）用氘灯（紫外区）或碘钨灯、氙灯（可见区）在同一波长测定背景吸收（这时原子吸收可忽略不计？） （3）计算两次测定吸光度之差，即为原子吸收光度。 5、Zeeman effect背景校正 Zeeman effect：在强磁场作用下简并的谱线发生分裂 如Mg的共振吸收线分裂为π 和σ± 三条线。 Π： 偏振方向与磁场平行，波长不变; σ± ：偏振方向与磁场垂直，波长分别向长波和短波方向移动。 图3-10 Mg的共振发射线经过旋转偏振器分裂为波长相同但一条平行磁场的偏振光P∥ 和另一条垂直磁场的偏振光P⊥。 π线吸收P∥ 但不吸收P⊥； σ± 由于波长产生变化，所以不吸收P∥ 也不吸收P⊥。 但是P∥ 和P⊥都能够进行背景吸收,而且吸收系数相同。因此P∥ 作为试样光束而P⊥作为参比光束可以进行背景校正。 二、物理干扰 试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应，主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小等。 可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来消除。 三、化学干扰 指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应。主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。 1. 化学干扰的类型 （1）待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物，致使参与吸收的基态原子减少。 例：a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。