数字电子技术基础实验.docVIP

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数字电子技术基础实验.doc

实验报告要求 实验题目 实验时间、地点(实验报告纸上面的抬头都要填写清楚) 实验要求(目的) 实验器材 实验原理 实验步骤(包含电路设计图) 实验记录 结果分析(分析所得到的实验结果,与理论上的结果相比较,是否正确验证了理论的正确性,如果结果不符,问题出在哪里,应如何解决) 实验体会(本次实验中的收获、遇到的问题及解决方法,以及个人的体会) 思考题(对本次实验的深入扩展) 实验一 TTL门电路逻辑功能测试 实验时间: 实验时数:2学时 实验目的: 1.熟悉数字电路实验箱的工作原理; 2.掌握数字电路实验箱使用的方法,及数字电路实验的基本步骤; 3.掌握门电路逻辑功能的测试方法; 实验器材: 1.数字逻辑实验箱、万用表 2.74LS00 二输入端四与非门 2片 CC4011 二输入端四与非门 1片 3.连接导线 若干 实验原理: (1) 74LS00 引脚图及逻辑功能: (2) CC4011 实验内容: 1.TTL门电路——与非门74LS00逻辑功能测试。 Y=(AB)’ 输入端接逻辑开关,输出端接指示灯,改变输入状态的同时观察输出状态,并使用万用表测试输出端电压,自制表格来记录实验结果。如表1-1。 表1-1 输入 输出 A B Y 电压(V) 0 0 0 1 1 0 1 1 2.CMOS门电路——与非门CC4011逻辑功能测试。 具体要求同实验1。 3.逻辑电路的逻辑关系。 用74LS00按照下图连线,并以表格的形式记录输出结果,同时要求使用万用表测试输出端电压并记录。 4.用与非门组成异或门并加以验证。要求: (1)将异或门表达式转化为与非门表达式; (2)画出逻辑电路图; (3)用实验测试并用表格记录实验结果。 思考题: TTL门电路与CMOS门电路在使用过程中,闲置的输入端应如何处理? 实验重点: 1.数字电路实验箱使用; 2.数字电路实验的基本操作步骤的掌握。 实验难点: TTL门电路与CMOS门电路在使用上的区别,及需注意的事项。 实验二 SSI组合逻辑电路 实验时间: 实验时数:2学时 实验目的: 加深理解用SSI(小规模数字集成电路)构成的组合逻辑电路的分析与设计方法。数字实验箱 74LS00 二输入端四与非门 2片 74LS54 四组输入与或非门(2-3-3-2输入端) 1片   74LS86 二输入端四异或门 2片 实验原理: 组合逻辑电路是最常见的逻辑电路之一,其特点是在任一时刻的输出信号仅取决于该时刻的输入信号,而与信号作用前电路原来所处的状态无关。 组合逻辑电路的设计 (1)74LS86引脚图 (2)74LS54引脚图 实验内容: 1、设计一个判断一位二进制数A与B大小的比较电路。画出逻辑图(用L1、L2、L3分别表示三种状态,即L1(AB), L2(AB), L3(A=B))。 设A、B分别接至数据开关, L1、L2、L3接至逻辑显示器(灯),将实验结果记入下表。 表 2、一个监视交通信号灯工作状态的逻辑电路。 图中用R、Y、G分别表示红、黄、绿三个灯的状态,并规定灯亮时为1,不亮时为0。用L表示故障信号,正常工作时L为0,发生故障时L为1。试分析R、Y、G出现哪五种状态时,要求逻辑电路发出故障信号(L为1)。 按图接线,结果记入下表。 3.用与非门、与或非门和异或门组成的全加器,如下图所示。要求:按图接线,验证理论分析结果,并将结果记录在表2-3。 输入端 被加数An 0 1 0 1 0 1 0 1 加数Bn 0 0 1 1 0 0 1 1 低位进位Cn-1 0 0 0 0 1 1 1 1 输出 全加和Sn 进位Cn 表2-3 实验重点: 组合逻辑电路的分析与设计 实验三 MSI组合逻辑电路 实验时间: 实验时数:2学时 实验目的: 1、了解编码器、译码器、数据选择器等中规模数字集成电路(MSI)的性能及使用方法。 2、用集成译码器和数据选择器设计简单的逻辑函数产生器。。数字实验箱 74LS151 8选1数据选择器74LS138 3线—8线译码器   1.数据选择器的典型应用之一——逻辑函数产生器 八选一数据选择器74LS151的外引线排列图和功能表分别如下: 2.3线—8线译码器用于逻辑函数产生器。 ?? 3线—8线译码器74LS138的外引线排列图和逻辑功能表分别如下: 实验内容: 1.试用数据选择器74LS151和3线—8线译码器74LS138分别设计一个监视信号灯工作状态的逻辑电路。信号灯由红(R)、黄(Y)、绿(G)三种灯组成,正常工作

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