片上ADCDAC实现精度可调ADC的方法.docVIP

片上ADCDAC实现精度可调ADC的方法 这里给出一种利用MCU自带ADC和DAC，并结合运放、电容、电阻等元件搭建外围硬件电路，实现10～20位测量精度可调的ADC的方法。 高精度ADC设计原理 输入电压经过电阻分压产生电压U入，送入由运放和电阻组成的减法运算电路的同相端，分压的原因是输入电压最大值大于运放的最大输入电压。MCU的DAC输出经过同相比例运算电路放大之后产生与U入相近的电压U近，送入减法电路的反相端。同相比例运算电路的作用是扩大DAC的输出电压范围，使U入和U近的最大值近似相等。经过减法运算电路之后的电压差值U差经过箝位电路送入MCU的ADC，通过读ADC寄存器的值可得U差的值。箝位电路是防止ADC的输入电压超过量程，而导致烧毁MCU。 在测量时，由软件控制改变DAC寄存器的值，从而改变DAC输出电压值，使U差的电压值在量程范围(0～3 V)之内。此时通过读DAC和ADC的寄存器的值，可得DAC输出电压与送入ADC的电压U差的值。根据DAC的输出电压和同相比例运算电路公式可得U近电压值，根据减法电路公式、U差和U近的值可得输入电压值。 系统硬件框图 系统硬件设计图2为实现17位ADC原理图。U101、R100、R101、R102、R103组成减法电路，U102、R108、R109、R116组成同相比例运算电路。VD100 组成箝位电路。VR是由基准电压源产生的3 V的基准电压。R117和R118组成分压电路，在R118上的电压为45 mV可抵消运放的零漂。ADO是MCU的ADC通道0的输入端。 图2所示的电路虽然只是实现17位ADC，但通过修改几个特定的电阻阻值就可实现调节测量输入电压范围和ADC测量分辨率。通过修改同相比例运算电路中R109与R116比例值，可实现调节输入电压的测量范围;通过修改减法电路中的R103与R100比例值，可实现调节ADC的分辨率。下面结合实现17位ADC硬件设计电路图，具体说明如何实现17位高精度ADC、调节测量输入电压范围和实现10～20位精度可调的ADC。17位ADC的实琨过程 对于一个n位的ADC，其分辨率为可测量最大输入电压值与2n的比值。因此，此电路图可实现的ADC的位数可以通过输入电压的最大值和分辨率计算得出。1)计算输入电压测量范围的方法 由图2可知，ADC的输入电压计算公式如下： 式中，VIN是输入电压，VDAOUT是当ADC的输入电压处于量程范围之内时DAC电压，VDAO是ADC输入电压。由式(2)可知，当DAC的输出电压和ADC的输入电压刚好达到最大值3 V时，输入电压为59.1 V，此电压值为系统可测量的最大输入电压值。由此可见输入电压的测量范围是0～59.1 V。 2)ADC分辨率的计算方法 当DAC的输出为零时，即VDAOUT=0时，由式(2)可知输入电压VIN与VADO的电压的关系为：VIN=VADO/10。MCU的ADC位数是1O位、最大输入电压是3 V。因此，ADC分辨率为0.292 mV。 3)实现17位ADC根据输入电压最大值与ADC分辨率的比值计算出此电路图实现的ADC的位数。由59.1/(0.292x10-3)=202 397=217.6，可以看出此电路实现了17位的ADC调节测量输入电压范围的方法 因为VADO和VDAOUT的最大值都是3 V，由式(2)可知，可测量的最大输入电压值是由R100、R103、R116、R109决定的。改变R100与R103的比值会影响ADC的测量精度，因此，调节测量输入电压范围主要是通过调节R116与R109的比值。由式(2)容易看出，当R116增加时，测量电压输入范围增加，R109增加时测量电压输入范围减小。 实现10～20位精度可调ADC的方法 由17位ADC的实现过程可知，此电路实现ADC的位数是由测量输入电压最大值和ADC的分辨率决定的。所以在改变ADC的位数时，要通过改变测量输入电压范围或者ADC分辨率。但是，系统测量输入电压范围是固定的。因此，可通过改变ADC分辨率实现ADC的位数改变。1)调节ADC分辨率的方法当DAC的输出电压为零时，将式(2)化简为式(3)： 由式(3)可知，当MCU的ADC变化一个电压刻度值时，VIN变化6R100/R103。ADC位数是10位、最大输入电压是3 V。因此，ADO分辨率为3 V/1 024=2.92 mV，ADC的分辨率为2.92x10-3x6R100/R103。由此可见，R100增加时，分辨率下降;R103增加时，分辨率提高。2)实现10～20位精度可调ADC通过可测量的输入电压最大值与要实现的ADC的位数可计算出ADC的分辨率，再通过式(3)可求出R100与R103的比例关系。按照R100与R103的比例关系修改其阻值，即可实现要得到的ADC的位数。例如将