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半导体物理学 半导体中的电子状态 半导体中杂质和缺陷能级 半导体中载流子的统计分布 半导体的导电性 非平衡载流子 pn结 金属和半导体的接触 半导体表面与MIS结构 第五章 非平衡载流子 5.1非平衡载流子的注入与复合5.2非平衡载流子的寿命5.3准费米能级5.4复合理论5.5陷阱效应5.6载流子的扩散运动5.7载流子的漂移运动,爱因斯坦关系式5.8连续性方程式 第五章 非平衡载流子 5.1非平衡载流子的注入与复合5.2非平衡载流子的寿命5.3准费米能级5.4复合理论5.5陷阱效应5.6载流子的扩散运动5.7载流子的漂移运动,爱因斯坦关系式5.8连续性方程式 寿命的意义 第五章 非平衡载流子 5.1非平衡载流子的注入与复合5.2非平衡载流子的寿命5.3准费米能级5.4复合理论5.5陷阱效应5.6载流子的扩散运动5.7载流子的漂移运动,爱因斯坦关系式5.8连续性方程式 准费米能级 复合中心的作用 开关器件,比如开关二极管,正向电压下少子积累(电注入) 反向电压下要求二极管迅速截止,但积累的少子有一定寿命,不会立刻消失(形成反向电流),所以为提高开关速度,要求少子寿命小 主动掺杂复合中心(深能级杂质),减少少子寿命 常用复合中心的杂质都是重金属元素,使用最多的Au和Pt 课堂练习6 写出下列变量的名称及含义 ? 1/?; ?p/? EF Ei Et 课堂练习6答案 写出下列变量的名称及含义 ? 寿命,非平衡载流子存活时间 1/?复合几率:载流子复合消失的概率 ?p/?复合率:单位时间单位体积净复合消失的电子-空穴对数 EF费米能级 Ei本征费米能级 Et杂质能级 公式 第五章小结 非平衡载流子及相关概念 ?、1/?、?p/?、EF、Ei、Et 各种复合过程:直接复合、间接复合、表面复合、俄歇复合 扩散运动:扩散长度 稳态扩散方程 扩散-漂移运动: 爱因斯坦关系 例题 掺杂浓度分别为(a) 和 的硅中的电子和空穴浓度?(b) 再掺杂 的Na又是多少? ( ) 作业 3 4 13 与一维情形的结果 相比,多了一项,表明这里的扩散效率要比平面情况高,原因是与平面运动相比, 径向运动本身引起载流子的浓度梯度,增加了扩散效率。特别是当r0Lp时,几何形状所引起的扩散的效果是十分显著的,远超过复合所引起的扩散(第二项)。 5.7 载流子漂移扩散, 爱因斯坦关系 1.载流子既漂移又扩散时的电流(一维情形) 迁移率反映载流子在外电场作用下运动的难易程度 扩散系数反映载流子在有浓度梯度时运动的难易程度 两者的关系? 2. 爱因斯坦关系的推导 考虑处于平衡态下的非均匀掺杂的n型半导体(一维),则杂质浓度都是x 函数,可写为 和 浓度梯度的存在必然产生载流子的扩散,形成扩散电流,则有: 电离杂质不能移动,而载流子的扩散有使载流子趋于均匀分布的趋势,结果导致半导体内部不再处处电中性,从而出现静电场E.静电场又引起载流子的漂移,漂移电流为: 在平衡条件下不存在宏观电流,静电场的建立总是反抗扩散进行,平衡时电子的总电流和空穴的总电流分别为零,即 所以对电子有: 又 由于V(x)存在,当考虑电子能量时,须计入附加的静电势,因而导带底的能量应写成 (1) (2) 两边微分得: (2)(3)代入(1)得: 同理对于空穴也有: 爱因斯坦关系式 这样,在非简并条件下,电子浓度为: (3) 利用爱因斯坦关系,可得半导体中总电流密度为 对于非均匀半导体,上式可改写为 ---半导体中同时存在扩散和漂移运动时的总电流密度表示式 说明电子俘获系数与电子发射系数是有关联的,这种关系的缘由是平衡态时电子俘获率和电子发射率要相等。 * 空穴发射系数与空公安部俘获系数相关联。 * * 4、表面复合* 表面越粗糙,载流子寿命越短. 机理: 表面越粗糙,表面包含的杂质或缺陷越多, 它们在禁带中形成复合中心能级(表面电子能级), 促进间接复合. 定义表面复合率US:单位时间内通过单位表面积复合掉的电子-空穴对数。 考虑到表面复合后的总复合几率: (?p)S 为表面处非平衡载流子浓度;S为常数,称之为表面复合速度。 设?V、?S分别为体内复合的寿命和表面复合的寿命 实验表明: 实验现象: 5.俘获截面* 假设复合中心为截面积 为的球体, 则俘获系数与俘获截面的关系为: 设, ?-为电子俘获截面, ?+为空穴俘获截面 ?的意义:复合中心俘获载流子的本领 杂质和缺陷能级的主要作用: 起施主或受主作用 起复合中心作用 起陷阱效
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