第四届中国测试学术会议日程.docVIP

第四届中国测试学术会议日程 一、CTC06程序一览： 　 　 会议室A 会议室B 会议室C 8.6 (周日) 下午 代表注册 19:00-20:00 容错计算专委会 8.7 (周一) 8:00 代表宾馆门口集合，坐车出发去秦皇岛分校会场 8:30-10:10 大会开幕及大会报告，地点：秦皇岛分校会场 10:10 代表集合，坐车返回宾馆 10:40-12:00 A1－内建自测试 B1－模拟电路设计 C1－软件测试1 12:30 午饭 14:00-15:40 A2-测试生成 B2－容错和可信计算 C2－数据采集与自动测试设备1 16:00-18:00 A3－专题讨论1：集成电路设计与测试 B3－模拟电路测试 C3－数据采集与自动测试设备2 18:00 　晚餐　　 8.8 (周二) 8:30-10:10 A4－可测试性设计 B4－软件测试2 C4－信息安全 10:30-12:10 A5- 故障诊断 B5－软件可靠性 C5－无线网络 12: 30 午饭 14:00-15:40 A6－设计验证 B6－模拟电路诊断 16:00-18:00 A7－专题讨论2：形式验证与模拟验证 B7－软件测试3 18:00 　晚餐　　 8.9 (周三) 上午 旅游 下午 代表离开 二、会议程序 8月7日上午8:30-9:00 大会开幕式： 容错专委主任发言； 会议组织单位领导发言； 大会主席发言； 程序主席发言。 代表合影 第四届中国测试学术会议程序 8月7日上午9:00-10:20 大会特邀报告1：Low Cost and Low Power Test for SoC 报告人：李崇仁（Chung Len Lee）， 台湾国立交通大学（National Chiao Tung University, Taiwan） 大会特邀报告2：The Effect of Code Coverage on Fault Detection for Software Testing 报告人：吕荣聪（Michael Rung-Tsong Lyu）， 香港中文大学（The Chinese University of Hong Kong） 8月7日上午10:40-12:00 A1－内建自测试 主席：向东，清华大学 A1.1 基于部分测试向量切分的LFSR重新播种方法 李扬,梁华国,刘军,胡志国 合肥工业大学 A1.2 基于测试片段间转移的低功耗BIST实现 杨婷,邝继顺 湖南大学 A1.3 一种嵌入式存储器的内建自修复机制 付祥,王达,李华伟,胡瑜,李晓维 中国科学院计算技术研究所 A1.4 基于SOC嵌入式核测试结构的研究 王 玺,何怡刚,刘美容,苏旷宇 湖南大学 B1－模拟电路设计 主席：罗先觉，西安交通大学 B1.1 基于振荡的SoC模拟核和ADC可测性设计 胡庚,王红,杨士元 清华大学 B1.2 FD of analog circuits based on WP and GPNN method 谭阳红, 何怡刚, 陈五立 湖南大学 B1.3 锁相环在荧光测温系统中的应用 王玉田,耿丽琨 燕山大学 B1.4 基于噪声整形时分复用技术的多谐信号源研究 唐圣学,何怡刚,黄姣英,郭杰荣,李宏民 湖南大学 C1－软件测试1 主席：赵会群，北方工业大学 C1.1 软件控制流故障的故障诊断的研究 朱伟,徐拾义 上海大学 C1.2 不可达代码的一种静态测试方法 夏玉辉,张威,万琳,王洪艳 装甲兵工程学院 C1.3 内存泄漏故障静态测试方法研究 张威,李辉,毕学军,宫云战 装甲兵工程学院 C1.4 过程间并发程序分析不可判定的一个新证明方法 缪力,张大方,杨金民 湖南大学 8月7日下午2:00-3:40 A2-测试生成 主席：梁华国，合肥工业大学 A2.1 Using logic simulation to replace fault simulation of path delay faults in fully scanned circuits 向东, 李开伟 清华大学 A2.2 一种基于IDDT测试的延时故障测试产生方法 蔡烁,邝继顺,崔昌明 湖南大学 A2.3 一种基于混沌搜索的IDDT测试产生算法