第三章_FPGA-CPLD结构与应用.pptVIP

二、 FLEX10K系列器件 图3-34 FLEX 10K内部结构 连续布线和分段布线的比较 连续布线 = 每次设计重复的可预测性和高性能 连续布线 ( Altera 基于查找表（LUT）的 FPGA ) FLEX 10K系列FPGA结构图 1、逻辑单元LE 图3-35 LE(LC)结构图 图3-36 进位链连通LAB 中的所有LE 快速加法器, 比较器和计数器 图3-37 两种不同的级联方式 2、 逻辑阵列LAB----是由一系列的相邻LE构成的 图3-38-FLEX10K LAB的结构图 3、 快速通道(FastTrack)—-是一系列水平和垂直走向的连续式布线通道 4、 I/O单元与专用输入端口 图3-39 IO单元结构图 5、 嵌入式阵列块EAB----是在输入、输出口上带有寄存器的RAM块，是由一系列的嵌入式RAM单元构成。 图3-40 用EAB构成不同结构的RAM和ROM 输出时钟 D RAM/ROM 256x8 512x4 1024x2 2048x1 D D D 写脉冲电路 输出宽度8,4,2,1 数据宽度8,4,2,1 地址宽度 8,9,10,11 写使能 输入时钟 三、FPGA/CPLD生产商 LATTICE VANTIS （AMD） ispLSI系列：1K、2K、3K、5K、8K ispLSI1016 、ispLSI2032、 ispLSI1032E、ispLSI3256A MACH系列 ispPAC系列： 其他PLD公司： ACTEL公司： ACT1/2/3、40MX ATMEL公司：ATF1500AS系列、40MX CYPRESS公司 QUIKLOGIC公司 CPLD SO MUCH IC！ FPGA CPLD ALTERA FPGA： FLEX系列：10K、10A、10KE，EPF10K30E APEX系列：20K、20KE EP20K200E ACEX系列：1K系列 EP1K30、EP1K100 STRATIX系列：EP1系列 EP1S30、EP1S120 CYCLONE系列：EP1C20 EXCALIBUR系列： CPLD： MAX7000/S/A/B系列：EPM7128S MAX9000/A系列 MAX3000系列 3.5 FPGA/CPLD测试技术 一、 内部逻辑测试（可测性设计——如在ASIC设计中的扫描寄存器） 二、 JTAG（Joint Test Action Group---联合测试行动组）边界扫描测试 图3-41 边界扫描电路结构 表3-1 边界扫描IO引脚功能 图3-42 边界扫描数据移位方式 图3-43 JTAG BST 系统内部结构 图3-44 JTAG BST系统与与FLEX器件关联结构图 图3-45 JTAG BST选择命令模式时序 TAP控制器的命令模式有： SAMPLE／PRELOAD指令模式 EXTEST指令模式 BYPASS指令模式 IDCODE指令模式 USERCODE指令模式 3.6 FPGA/CPLD产品概述 一、 Lattice公司CPLD器件系列 1. ispLSI器件系列 ispLSI1000E系列 ispLSI2000E/2000VL/200VE系列 ispLSI5000V系列 ispLSI 8000/8000V系列 2. ispLSI器件的结构与特点: 采用UltraMOS工艺。 系统可编程功能。 边界扫描测试功能。 加密功能。 短路保护功能。 第3章 FPGA/CPLD结构与应用 * 3.1 概 述 第3章 FPGA／CPLD结构与应用 组合电路:在逻辑上总是当前输入状态的函数 时序电路:其输出是当前系统状态与当前输入状态的函 数,它含有存储单元. 图3-1 基本PLD器件的原理结构图 乘积项逻辑可编程结构 一、可编程逻辑器件的发展历程 70年代 80年代 90年代 PROM 和PLA 器件 改进的 PLA 器件 GAL器件 FPGA器件 EPLD 器件 CPLD器件 内嵌复杂 功能模块 的SoPC 二、 可编程逻辑器件的分类 图3-2 按集成度(PLD)分类 比对基准:GAL22V10 可编程逻辑器件从结构上区分,可分为乘积项结构器件和查找表结构器件. 可编程逻辑器件从编程工艺上划分,可分为一次性