实验室测试分析设备一览表.xlsVIP

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实验室测试分析设备一览表.xls

Sheet3 Sheet2 Sheet1 币种 实验室测试分析设备一览表 供应商 极致国际 生产厂家和产地 PV measurement、美国 备注 USD 测试电池片在300-1100 nm光谱的内、外量子效率、反射率以及估计Jsc 此价格不包括选购配件控制测试温度 天美科技 日立、日本 扫描电子显微镜 日立TM-3000 测试硅片绒面形貌、栅线形貌、以及硅片和电池片剖面观测 放大倍数到3万倍、最大样品直径为7厘米 扩散后开路电压检测 Suns-Voc WTC120 Sinton、美国 扩散后工艺检测,测量最大开路电压以及用准静态光电导法测少子寿命 接触电阻扫描 Corescan SunLab SunLab、荷兰 EURO 扫描绘制金属化的接触电阻,并联电阻扫描发现漏电位置,开路电压扫描和光束诱导电流扫描 瞬渺科技 电化学ECV CVP21 WEP、德国 测量半导体材料里的掺杂浓度分布,如磷或硼的掺杂浓度分布以及pn结深 中导光电 根据光致发光原理,采集太阳电池荧光信号并影摄成像,通过影摄图像来检测太阳电池缺陷,判断电池片的质量 序号 名称和型号 申请数量 价格(万) 主要测量功能 太阳能电池片2D/3D形貌仪 DCM200 沛德光电 RMB 用于绒面电池的绒面形貌观察 太阳电池光谱响应仪 QEX7 华通特瑞 光致荧光太阳能电池片检测仪 PL-S56 3i System、美国 phase view、法国 诊断漏电流的确切位置 太阳能电池片缺陷检测仪 EL-C01 Sentech 东方集成 椭偏仪SE 400 adv 测量氮化硅薄膜折射率及厚度 1.00 1.00 26.20 2.00 1.00 25.00 3.00 1.00 6.43 4.00 1.00 7.34 5.00 1.00 3.80 6.00 1.00 3.45 7.00 1.00 5.33 8.00 1.00 7.35 9.00 1.00 8.56

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