摄影课PPT-第四章_曝光与测光.pptVIP

二、测光方式 1．平均测光 平均测光是测定被摄体的综合亮度，即把较大测光范围内的各种景物的亮度综合，取其平均亮度值，以此作为推荐曝光量或进行自动曝光的依据。 1、平均测光 在单镜头反光相机上，平均测光就是测量取景画面全部景物的平均亮度。当这种平均亮度等于18%的中灰色调时，就能取得良好的曝光效果；当时，当画面出现大面积过亮或过暗的背景时，平均测光就会导致被摄主体明显的甚至严重的曝光不足或过度。 2、偏重中央测光 又称“中央重点测光”。 其测光读数是以取景画面“一定面积”的被摄体亮度为主其余部分景物的亮度为辅。这种“一定面积”多数位于画面中央，也有的位于画面中央偏下。 使用“偏重中央测光”时，应使偏重区域对准中灰色调景物，以取得良好的曝光效果。 3．部分测光与点测光 部分测光（又称“局部测光”、“区域测光”）和点测光（也称“重点测光”）。 都是仅仅测量画面中央很小部分区域的景物亮度，以此作为测光读数和自动曝光的依据。 测光面积占整个画面10%左右的，称为“部分测光”，占3%左右的，称为点测光（重点测光）。 部分测光与点测光不受画面其他景物亮度的影响，因而只要把极小的测光区域对准景物中的18%的中灰色调，通常就能获得准确的曝光。 但是，如果把测光区域对准景物中的高光部或深暗部，就会导致明显的曝光不足或过度。 4．多点测光 又称“分区综合测光”。是一种高级的测光系统。 这种测光系统采用多个测光元件，各自向画面的既定区域测光，然后把各自的测光数据输入相机的微型电脑，由电脑进行计算，得出准确的自动曝光数据。 三、外测光、TTL测光、TTL-OTF测光、TTF测光 1．外测光：测光不通过相机镜头，在相机外表面上能看到测光系统的受光窗。 外测光的受光窗的位置有的在镜头筒上，有的在镜头上方的机身上（有点状和方形状之分）。 外测光的测光性能都属于平均测光。其主要缺点是：测光范围与成像范围不完全一致，产生测光误差的可能性较大。 2．TTL测光 即“通过镜头测光（Through The Lens）”。 其特点是在相机的外表面看不到测光窗，测光范围总是在成像范围之内，或与成像范围完全一致。因此，测光准确性比外测光高，测光时，相机光圈处于最大光圈状态，故又称“全开光圈测光”。 TTL测光一般用于单镜头反光相机，测光性能多半为“偏重中央测光”，也有采用“点测光”、“多点测光”或“平均测光”的。 3．TTL-OTF测光 即“通过镜头测量胶片反射光”（ Through The Lens—Off The Film），又称“收缩光圈测光”。这是用于自动曝光的一种先进的测光系统。其特点是：测光元件在相机反光镜后、胶片平面下方，在实际曝光时进行测光。 测光原理是：当快门释放时，相机的光圈自动收缩到预先调定的大小，光线通过光孔到达胶片后又反射到测光元件，一旦胶片达到所需的曝光量，相机便自动关闭快门，完成自动曝光。 3．TTL-OTF测光 TTL-OTF测光比通常TTL测光的自动曝光准确性更高。采用这种测光的相机一般具备两套测光系统：“TTL-OTF测光”用于自动曝光时的测光，“TTL测光”用于手动曝光时的测光。 3．TTL-OTF测光 4．TTF测光（Through The Finder） 即通过取景器测光。 这是用于内置变焦镜头的相机的测光系统。它既不同于外测光，也不同于内测光，是测量通过取景器的光线，测光元件位于取景器内，测光范围随镜头变焦而变化，测光准确性高于外测光。 四、测光系统使用的光敏元件 1．硒光电池 2．硫化镉光敏电阻（cds） 3．蓝硅光敏二极管（SPD） 4．镓光电二极管（GPD） 5．矽光敏二极管（SPC） 五、自动曝光补偿 自动曝光补偿的主要方法： 1．使用自动曝光补偿盘或按钮 方法：需减少一档曝光就调到“-1”，需增加一档曝光就调到“+1”。 2．使用片速调节装置 方法：需减少一档曝光就把所用ISO胶卷的片速乘2加以调节，需增加一档曝光就把所用ISO胶卷的片速乘0.5加以调节。 如使用ISO100胶卷，需减少一档曝光时，就把片速调节为ISO200，需增加一档曝光时，就把片速调节为ISO50。 五、自动曝光补偿 3．使用测光锁定装置 多数自动曝光相机采用“测光锁定”的设计来实现自动曝光的补偿。 操作方法：摄影者先将相机对准合适的景物（如人的脸部、18%中灰色调物体等），按下快门钮一半测光，然后保持快门钮按在一半状态再重新取景拍摄。 五、自动曝光补偿 六、测光系统的使用技巧 暗弱光线下的测光 （1）采用提高片速调节的方法测光。 （2）采用白卡（灰卡的另一面是白卡，其反光率为90%）测光。用白卡测出的读数不能直接使用，需要增加2.5档曝光量使用。 使用远摄镜