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测量系统分析 Measurement System Analysis;测量系统分析的目的;数据的质量;描述测量数据质量的统计特性;低质量数据的原因和影响;有关测量数据的常见问题;有关测量数据的常见问题;有关测量数据的常见问题;过程变差剖析;测量系统的规划（一）;测量系统规划（二）;测量系统开发检查清单的建议要素;第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题;第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题;第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题;第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题;第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题;第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题;第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题;第1类要素：与测量系统设计和开发有关的问题;第2类要素：与测量系统制造有关的问题 （设备、标准、仪器）;第2类要素：与测量系统制造有关的问题 （设备、标准、仪器）;第2类要素：与测量系统制造有关的问题 （设备、标准、仪器）;第2类要素：与测量系统制造有关的问题 （设备、标准、仪器）;第3类要素：与测量系统实施有关的问题（过程）;第3类要素：与测量系统实施有关的问题（过程）;连续变量测量系统分析;测量仪器分辨率（测量仪器的分辨率必须小于或等于规范或过程误差的10%）;测量系统的有效分辨率（ discrimination）;分辨率不足的表现;敏感度（Sensitivity）;准确度(Accuracy);;;准确度的问题可以通过校准来探测. 偏倚也可以与过程的容差相比较 判断准确度的简单标准为. 小于过程变差或容差的 1%, 可认为是精确的. 小于过程变差或容差的 1% 则需要研究和调整测量系统, 或者临时用补偿值来修正以后的测量值 偏倚的研究还可以通过作图的方式来进行, 即作出直方图, 然后根据经验判断是否可以接受. 偏倚的研究还可以通过计算置信区间来判断是否可以接受;作图分析;偏倚研究的分析;偏倚的调整;线性; 线性的探测可以在校准时进行 线性的好坏可以通过作图来显示 线性的研究也可以通过数据分析来进行, 即用最小二乘法来计算最佳的拟合直线, 再用假设检验来验证其线性是否可以接受.;线性误差的原因;在一段时间内，测量结果的分布无论是均值还是标准偏差都保持不变和可预测的 通过较长时间内，用被监视的量具对相同的标准或 标准件的同一特性进行测量的总变异来监视 可用时间走势图进行分析;稳定性的判定;造成不稳定的可能因素（一）;造成不稳定的可能因素（二）;校 准;精确性（重复性和再现性）;测量系统内在的变异性 基于重复测量的数据，用分组后组内的标准偏差来估算 小于测量系统的总变差;造成重复性的可能原因;造成重复性的可能原因（续）;精确度：再现性;造成再现性误差的潜在原因;造成再现性误差的潜在原因（续）;造成再现性误差的潜在原因（续）;测量系统分析的准备工作;测量系统分析的两个阶段;测量系统分析的两个阶段（续）;连续变理测量系统分析;平均范围 = = (2+1+1+2+1)/5 = 7/5 = 1.4 量具误差 = 5.15 * /d =5.15 / 1.19 * = 4.33 * = 4.33 * 1.4 = 6.1 % Gage RR = 量具误差Gage Error / 允差Tolerance = 6.1 / 20 * 100 % = 30.5%;短期模式练习;计量型数据的 均值-极差法;计算A测的所有样品 的总平均值XA。 ;测量系统分析;EV= Equipment Variation (Repeatability) AV= Appraiser Variation (Reproducibility) RR= Repeatability Reproducibility PV= Part Variation TV= Total Variation of RR and PV K1-Trial, K2-Operator, K3-Part Constants;卡尺的RR研究 Excel 运算; StdDev Study Var %Study Var %Tolerance Source (SD) (5.15*SD) (%SV) (SV/Toler) Total Gage RR 1.85E-02 0.095449 18.87 19.09 Repeatability 1.42E-02 0.0