第三章光纤衰减测量.pptVIP

 内 容 一、衰减测量的光激励二、剪断法三、插入损耗法 四、背向散射法 五、光时域反射计 一、衰减测量的光激励 三、插入损耗法 利用与传输光相反方向的瑞利散射光功率来确定光纤损耗系数的方法，称为背向散射法。 背向散射法也是一种非破坏性的测试方法。测试只需在光纤的一端进行，而且一般有较好的重复性。更由于这种方法不仅可以测量光纤的衰减系数，还能提供沿光纤长度损耗特性的详细情况，其中包括检测光纤的缺陷或断裂点位冒、接头的损耗和位置等，也可给出光纤的长度，所以这种方法对实验研究、光纤制造和工程现场都很有用。利用这种方法做成的测量仪器，叫做光时域反射计(optical time—domain reflectometer)，简称OTDR。 背向散射法是将大功率的窄脉冲注入被测光纤，然后在同一端检测沿光纤背向返回的散射光功率。该方法的理论依据是瑞利散射，瑞利散射光的特征是它的波长与入射光波的波长相同，光功率与该点的入射光功率成正比，所以测量沿光纤返回的背向瑞利散射光功率就可以获得光沿光纤传输时损耗的信息，从而可以测得光纤的衰减．故称此方法为背向散射法。 背向散射法测量原理框图 背向散射记录曲线 校准输入参考电平 衰减测量 背向散射记录曲线1 格林码自相关函数 互补格林码自相关函数 美国Acterna公司 MTS 5000光时域反射仪  美国Acterna公司 第三章 光纤衰减测量 第三章 光纤衰减测量 Measurement of Fiber Attenuation 当光耦合进多模光纤时，会激励起很多模式，这些模式所携带的能量各不相同，传输时的损耗也不相同。 光纤测量的注入条件 光源 透镜 光纤中各个模式所携带的能量各不相同，传输时的损耗也不相同。而且由于光纤的弯曲及结构的不均匀性等原因，使得各模式之间发生能量转换，经过适当长一段距离后，最终损耗较小的低阶模将携带较大光功率、损耗较大的高阶模将携带较小光功率，于是各个模式携带和传送的光功率达到稳定，此时称为稳态模分布． 光纤测量的注入条件 1、多模光纤衰减测量的注入方法 为获得精确、可重复的测量结果，测量时应保证光纤中功率分布是稳定的。在多模传输的情况下，精确测量的主要问题是测量结果与注入条件、环境条件(应力、弯曲、微弯)有关。 实验表明：注入光通过光纤一定长度(耦合长度)后，可达“稳态”或“稳态模功率分布”，这时模式功率分布就不再随注入条件和光纤长度而变，但在一般情况下对于质量较好且处于平直状态的光纤，其耦合长度也需要几公里。因此在实际测量中，对于短光纤一般用稳态模功率分布装置，或适当的光学系统，或有足够长的注入光纤，以获得稳态功率分布条件。 能使多模光纤达到稳态模分布的注入条件有两种方式：满注入和限制注入． 满注入就是要均匀地激励起所有的传导模式． 多模光纤衰减测量的注入条件 光源 透镜 限制注入就是只激励起较低损耗的低阶模，而适当的抑制损耗较大的高阶模． 当测量光纤的损耗时，采用限制注入方式，因为损耗较大的高阶模的注入，会由于被测光纤长度不同而使输出光功率不同，从而产生测量误差。 光源 透镜 无论以哪种注入方式，要达到稳态模分布需要配置的设备有：扰模器、滤模器和包层模剥除器． ①扰模器 要达到稳态模分布，需要在光纤中传输很长距离之后才行，这给测绘带来很多麻烦．根据模耦合原理，采用强烈的几何扰动的方法．就能使多模光纤各模式迅速达到稳态分布，这种器件称为扰模器． 稳态模功率分布模拟装置 ②滤摸器 当光耦合进光纤时．会激起瞬态模或其他不需要的传导模，为了测量准确，要抑制掉这些模式，那么用来滤除这些模的器件称为滤模器．通常这些需滤去的模损耗都较大．如对光纤稍加弯曲，这些模很块就会衰减掉． 一、衰减测量的光激励 当光耦合进光纤时，不仅会激起传导模，还会激起非传导的辐射模辐射到包层中．当光纤的涂敷层的折射率比包层的折射率低时，辐射模会在包层与涂覆层界面上发生全反射，从而在包层中传输，形成包层模．因为包层模会对测量产生严重影响，所以需要除去． 包层模剥除器是一种使包层模转换成辐射模的部件，它可以将包层模从光纤中除掉。 ③包层模剥除器 一、衰减测量的光激励 包层模剥除器是一种使包层模转换成辐射模的部件，它可以将包层模从光纤中除掉。 将光纤嵌入s型槽内．其中充满折射率匹配液可消除包层模。 由于光具有向高折射率介质折射的性质，将滤模器中那一段光纤的涂敷层去掉，并浸在折射率等于或稍大于包层折射率的匹配液中。 匹配液 可以通过下面方法判断是否达到稳态分布： 看光纤输出功率与扰模程度的变化关系：刚开始扰模时由于高阶模的包层模损耗很大，输出功率下降很快；当模式趋于稳态分布时，输出功率的变化就很缓慢。 光源 扰模器 滤模