SRAM型FPGA带刷的新分层三模冗余技术容错分析.pdfVIP

下载本文档

5
0
约1.96万字
约 6页
2017-08-22 发布于湖北
举报
版权申诉

SRAM型FPGA带刷的新分层三模冗余技术容错分析.pdf

1、本文档共6页，可阅读全部内容。
2、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。
3、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

SRAM型FPGA带刷的新分层三模冗余技术容错分析.pdf

-- ISS 1002 N 4956 ．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．，．．。．．．．．．．．．．．．．．． — — 第 29卷第 11期 2012年 11月 CN11—2034／T V01．29 No．11 NOV．2O12 SRAM型 FPGA带刷的新分层三模冗余技术容错分析张硕，伊小素，孙进辉，张倩 (1．北京航空航天大学光电技术研究所，北京 100191； 2．武警学院训练部实验教学管理中心，河北廊坊 065000) 验实mp蓦㈣e【摘要：SRAM型 FPGA(fieldprogrammablegatearray)因为其具有信息密度大、性能高、开发成本低、可重复编程等特性，受到航天电子方面设计者青睐，越来越多地被应用于需要高可靠性的复杂空间环境。然而，相比于传统的ASIC电路设计，由于 FPGA对辐射的潜在敏感性，易引发单粒子翻转效应 (single—eventup— 技 sets，sEus)，甚至可能造成系统失效。该文提出一种全新的三模冗余技术 (triplemodularredundancy，TMR) 来削弱空间粒子对 FPGA的影响，这项技术可以减轻 FPGA 中采用映射设计的配置位受到 sEus的影响。术山通过逐位翻转故障注入实验验证显示，相对于传统的TMR设计，采用该新技术防护的 FPGA 中易收到 SEUs 与 d 影响的配置位减少了 87 。理管№a蚪关键词：FPGA；单粒子翻转；分层三模冗余中图分类号：TP302．8 文献标志码：A 文章编号：1002—4956(2012)11—0044-06 e Single-eventupsetsfauk-tolerantmethodforSRAM-basedFPGA ZhangShuo ，YiXiaosu ，SunJinhui，ZhangQian (1．InstituteofOpticsandElectronics，BeijingUniversityofAeronauticsandAstronautics，Beijing100191，China； 2．TrainingDepartment，ArmedPoliceAcademy，Langfang065000，China) Abstract：SRAM—basedFPGAsarebecomingveryappealingforseveralapplicationswherehighdependability isamandatoryrequirement．Unfortunate1y，comparedtoASIC designs，thetechnologyofSRAM—basedFP— GAsisverysensitivetosingle—eventupsets(SEUs)andparticularconcernsarisefrom SEU saffectingtheFP— GAs’configurationmemory．Thispaperproposesanew TMR methodformitigatingtheimpac