可重构电子系统芯片级在线自主容错方法研究.pdfVIP

第29卷第6期 计 算 机 应 用 研 究 Vo】．29 No．6 2012年 6月 ApplicationResearchofComputers Jun．2012 可重构 电子系统芯片级在线 自主容错方法研究冰 袁 鹏，王友仁，张 砦 (南京航空航天大学 自动化学院，南京210016) 摘 要 ：可重构电子系统芯片固定型故障的传统容错设计往往采用集中式控制方法，存在测试时间长、硬件资 源利用率低、对外部控制器依赖性高等 问题。因此 ，设计了一种具有分布式 自主客错能力的可重构细胞阵列，通 过将细胞内部查找表输出与参考值进行比较的方式进行循环检测，并利用冗余存储单元对故障查找表进行修 复。以四位并行乘法器为例进行仿真验证 ，实验结果表明，新型可重构阵列的 自主容错设计方法，比现有设计的 硬件开销小，修复时间短，容错能力强，且设计复杂度不受阵列规模影响。 关键词 ：可重构电子系统；分布式控制 ；细胞阵列 ；芯片级在线 自主容错 中图分类号 ：TP302．8 文献标志码 ：A 文章编号：1001—3695(2012)06—2172—04 doi：10．3969／j．issn．1001—3695．2012．06．045 Researchonchip-·levelautonomouson—-linefault--tolerantmethodfor reconfigurableelectronicsystems YUAN Peng，WANG You—ren，ZHANG Zhai (Collegeo／AutomationEngineering，Na ngUniversity。厂AeronauticsAstronautics，Nanjing210016，China) Abstract：Thetraditionalfauh—tolerantdesignsforreconfigurableelectronicsystemson—chipstuck—atfauhmainlynsetheten— tralizedcontrolmethods，whichusuallycauselongtestingtime，low hardwareresourcesutilizationrate，andhig【hdependence onexternalcontroller．ToSOlVetheseproblems，thispaperdesignedanovelreconfigurablecellarraywithdistributedautono— mousfault—tolerantability，eachcellcouldimplementcyclicself-detectionbycomparingLUTs’outputwith referencevalue， andusedredundantstorageunittorepairfaultLUTs．Chosea4bitsparallelmultiplierasanexample，theexperimentresult demonstratesthat，comparedwiththeexistingdesign methods，thisnovelreconfigurablearrayhaslesshardwarecost，shorter self-repairtime，betterfault—toleranceability，andthedesigncomplexityisn’tinfluencedbythearrayscale． Keywords：reconfigurableelectronicsystems；distributedcontrol； cellarray；autonomouson—linefault—toleranceatchip一 】evel