采用瞬态EL和延迟EL测试方法研究磷光掺杂体系的内部发光过程.pdfVIP

物 理学 报 ActaPhys．Sin．Vo1．63，No．21(2014) 217801 采用瞬态EL和延迟ELi~Jl试方法研究磷光 掺杂体系的内部发光过程冰 龙嫂嫂 赵谡玲十 徐征$ 申崇渝 ·张成文 杨照坤 黄迪 (北京交通大学光电子技术研究所，发光与光信息技术教育部重点实验室，北京 100044) (2014年5月 13日收到；2014年6月 17日收到修改稿) 有机磷光发光二极管 (OLED)因为理论内量子效率能达到100％而成为研究热点，但是至今有机磷光 OLED器件发光机理及过程仍然不完全清楚，需进一步研究．本文中搭建了一套瞬态 电致发光和延迟 电致 发光的测量系统，并首次综合运用瞬态电致发光和延迟电致发光测量来探测有机磷光OLED器件发光层 内部 电荷载流子的运动，从而分析研究其 内部发光过程及机理．研究中首先制备了一种高效红色磷光材料 (pbt)2Ir(acac)衍生物 (Irf)掺杂荧光材料作为发光层的器件，对其进行了瞬态EL测量，发现当驱动脉冲信号 撤销时瞬态发光强度会突然出现一个瞬时过冲现象ftransientovershoot)，通过实验分析证实这个发光的瞬 时过冲是由于发光层内部电子和空穴累积造成的，还证实了在发光层与空穴传输层界面存在空穴的累积．通 过延迟 电致发光的研究发现在这种掺杂体系中发光主要来 自于客体材料Irf的直接俘获 电子空穴复合发光， 而不是来 自于主客体之间的能量传递，器件中的空穴传输发生在客体材料Irf上，而 电子传递则主要在主体材 料TAZ上．同时还发现空穴注入是整个掺杂体系中重要的影响因素． 关键词：瞬态EL，延迟电致发光，三线态一三线态湮没，overshoot PACS：78．47．jd，33．50-．j，81．05．Fb DOI：10．7498／aps．63．217801 致发光测试是指驱动 电脉冲信号停止之后，器件 1 引 言 产生的延迟发光．延迟 电致发光能研究主客掺杂 体系中发光层 内部激子复合、载流子传输与复合 有机 电致发光器件fOLED)因其主动发光、响 和能量传递等等发光过程，还能反应 出发光层 内 应快速等特点被称为21世纪梦幻显示器件而成 部陷阱与缺陷、三线态一三线态湮没 (triplet—triplet 为研究的热点，特别是有机 电致磷光器件因为其 annihilation，TTA)[]、测量发光区域 3【]和载流子 能有效利用三线态激子使其发光效率能打破荧光 迁移率 []等．目前对于延迟荧光测量方面的研究 OLED25％的效率极限而被广泛的研究．目前的 主要集 中在荧光OLED中TTA的探测、载流子迁 研究主要集中于如何通过开发新材料在直流驱动 移率和磷光OLED中效率滚降 (roll-off)0【】以及发 下提高发光效率及亮度等，但是对于磷光OLED内 部发光过程及机理的研究很少，因此相 比于稳态 电 光区内激子的形成方式 0【】和激子之间湮没和激子 致发光能反应出电荷载流子累积、存储、俘获甚至 与极化子之间猝灭对于发光影响 2【，】等方面．大 迁移率的瞬态 电致发光ftransientelectrolumines— 部分关于瞬态EL的研究都是采用重复的单一矩形 cence，transientEL1测试被广泛应用于研究有机 脉冲信号来做驱动电源探测器件的电致发光信号 电致发光器件 内部的