泰克推出LPDDR4物理层测试解决方案 扩展泰克综合DDR测试解决方案的支持范围,以支持用于移动设备的新型高速低功耗内存接口.pdfVIP

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泰克推出LPDDR4物理层测试解决方案 扩展泰克综合DDR测试解决方案的支持范围,以支持用于移动设备的新型高速低功耗内存接口.pdf

界 态 |。毫薯§ 己口I4年 I口月 第]]卷 第 1口期 ——一 罗德与施瓦茨公司四路相参射频信号产生方案 2014年 1O月7日,慕尼黑——在德 国举办的欧洲微波 频器 ,可 以非常经济地扩展为 四个射频通道 ,四路通道支持 周上 ,罗德与施瓦茨公司介绍了一套非常紧凑 的四路相参射 的频率均可达到20GHz。整个相参系统只有 6U高度,尺寸 频信号产生方案,频率支持到20GHz。该测试方案非常适用 远远小于其它类似 的测试系统 。R8LSSMW200A支持触摸 于 国防、军工应用 ,例如用于测试相控阵天线等 多通道天线 操作 ,并具有图形化显示界面,用户可 以很直观对整个系统 系统 。RSSMW200A是该相参系统的核心仪表 ,通过配 进行配置 。 置 R&SSMW—B90相参选件 ,可 以实现调制或非调制信号 罗德与施瓦茨公司在欧洲微波周的9号大厅 102展台 之间的相参 。RSSMW200A可配置两个射频通道 ,借助 展示了该测试方案 。 于两 台RSSGS100A信号源和两 台R8LsSGU100A上变 www.rohde-sehwarz.com/ad/press/smw200a 泰克推出LPDDR4物理层测试解决方案 扩展泰克综合DDR测试解决方案的支持范围,以支持用于移动设备的新型 高速低功耗 内存接 口 泰克公司 日前宣布,推出针对下一代移动 内存技术一一 Reich表示 ,“为 了高效地将这一令人激动 的新技术推 向市 】EDECLPDDR4的完整物理层及一致性测试解决方案 。将 场 ,我们提供涵盖整个 内存验证范畴的必要测试和测量工 于 2015年开始采用 的LPDDR4技术基于 目前 的LPDDR3 具——从高性能示波器和探头到先进分析软件 。” 技术 ,其数据速率将增加到4.26Gb/s,并使用超低 电压核心 通过此次发布 ,泰克的DDR—LP4分析软件现在提供针 使功耗降低约 35 ,以提高智能手机 、可穿戴设备和平板 电 对 LPDDR4新标准的综合性物理层测试和调试 。通过 自动 脑等移动设备的性能 。 化测试设置和执行,DDR-LP4使 内存设计工程师 自信其设 由于仅有 1.1V的低输入 /输 出电压 、高数据速率 以 计能够完全符合 内存标准 。如果 内存系统在一致性测试 中 及使得测试 非常不方便 的紧凑机 械设 计 ,LPDDR4带来 失败 ,设计工程师能够快速切换到调试模式,并使用泰克示 了新 的测试和测量挑战 。另外,参考 电压 (Vref)、读突发 波器 的强大 VisualTrigger(可视触发)功能等工具来隔离相 (readburst)和写突发 (writeburst)方面 的许多变化也使 关事件 ,以便利用 DPOJET抖动和眼图测量工具集进行更 得进行 JESD209—4规范所要求 的测试变得更加复杂 。泰 深入 的根本原 因分析 。 克为设计工程师测试其 LPDDR4设计提供最完善 的工具 LPDDR4插补器 集 。通过 自动化 的设置及 测试执行 ,泰克解决方案 能够 泰克还与合作伙伴 NexusTechnology联合推出业 内首 将其测试周 期从之前 的 1个 星期或 更长 时间缩短 到 1 款具有两项插补器设计专利 的LPDDR4内存器件插补器 。 小 时 。 EdgeProbe?插补器是为满足移动设计的严格机械要求而设 “LPDDR4无疑显著增加了(内存)确认对整个移动 内存 计 的,而带插座插补器具有使用简便、可重复使用和器件可 生态系统的复杂性和挑战,无论是对硅芯片供应商还是系统 互换 的特点 。 集成商都 是如此”,泰克公司高性能示波 器总经理 Brian ~ 96 一 国外电子测量技术

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