AD转换实验预习报告.docVIP

A/D接口模块实验 实验目的 1、熟悉ARM本身自带的八路十位A/D控制器及相应寄存器； 2、编程实现ARM系统的A/D功能； 3、掌握带有A/D的CPU编程实现A/D功能的主要方法。 二、实验设备 A/D转换模块、仿真器PC 机 1）双积分型的A/D 转换器 双积分式也称二重积分式，其实质是测量和比较两个积分的时间，一个是对模拟输入电压积分的时间T0，此时间往往是固定的；另一个是以充电后的电压为初值，对参考电源Vref反向积分，积分电容被放电至零所需的时间T1。模拟输入电压Vi 与参考电压VRef 之比，等于上述两个时间之比。由于VRef 、T0 固定，而放电时间T1 可以测出，因而可计算出模拟输入电压的大小(VRef 与Vi 符号相反)。 2）逐次逼近型的A/D 转换器 逐次逼近型(也称逐位比较式)的A/D 转换器，应用比积分型更为广泛，其原理框图如图3-10 所示，主要由逐次逼近寄存器SAR、D/A 转换器、比较器以及时序和控制逻辑等部分组成。它的实质是逐次把设定的SAR 寄存器中的数字量经D/A 转换后得到电压Vc 与待转换模拟电压V。进行比较。比较时，先从SAR 的最高位开始，逐次确定各位的数码应是“1”还是“0”，其工作过程如下：转换前，先将SAR 寄存器各位清零。转换开始时，控制逻辑电路先设定SAR 寄存器的最高位为“1”，其余位为“0”，此试探值经D/A 转换成电压Vc，然后将Vc 与模拟输入电压Vx比较。如果Vx≥Vc，说明SAR 最高位的“1”应予保留；如果VxVc，说明SAR 该位应予清零。然后再对SAR 寄存器的次高位置“1”，依上述方法进行D/A 转换和比较。如此重复上述过程，直至确定SAR 寄存器的最低位为止。过程结束后，状态线改变状态，表明已完成一次转换。最后，逐次逼近寄存器SAR 中的内容就是与输入模拟量V 相对应的二进制数字量。显然A/D 转换器的位数N 决定于SAR 的位数和D/A 的位数。图3-10(b)表示四位A/D 转换器的逐次逼近过程。转换结果能否准确逼近模拟信号，主要取决于SAR 和D/A 的位数。位数越多，越能准确逼近模拟量，但转换所需的时间也越长。 2．A/D 转换的重要指标 1）分辨率(Resolution)： 分辨率反映A/D 转换器对输入微小变化响应的能力，通常用数字输出最低位(LSB)所对应的模拟输入的电平值表示。 2）精度(Accuracy)： 精度有绝对精度(Absolute Accuracy)和相对精度(Relative Accuracy)两种表示方法。 3）转换时间(Conversion Time)： 转换时间是指完成一次A/D 转换所需的时间，即由发出启动转换命令信号到转换结束信。 4）电源灵敏度(power supply sensitivity)： 电源灵敏度是指A/D 转换芯片的供电电源的电压发生变化时，产生的转换误差。 5）量程 量程是指所能转换的模拟输入电压范围，分单极性、双极性两种类型。 6）输出逻辑电平 7）工作温度范围 3．ARM 自带的十位A/D 转换器 ARMS3C2410X芯片自带一个８路10位A/D转换器，最大转换率为500K，非线性度为正负 １.5位，其转换时间可以通过下式计算：如果A/D使用的时钟为50MHz，预定标器的值为49， 那么：A/D转换频率=50MHz(49+1)=1MHz 转换时间=1/（1MHz/5时钟周期）=1/200kHz=5us 注意：因为A/D转换器的最高时钟频率是2.5MHz,所以转换速率可达500kSPS. 4．AD 转换器在开发平台的接法如下： 即前三路通过分压电位器接到3.3v 电源上。 五、实验步骤 1．新建工程，将“Exp2 ARM A/D 接口实验”种的文件添加到工程。 2．编写获取转换结果函数（main.c） 3.主函数