_Multisim数电仿真_与非门逻辑功能测试及组成其它门电路st.pdfVIP

集成与非门逻辑功能测试及组成其它门电路 一、实验目的： 1. 熟悉 THD-1 型(或 Dais-2B 型)数电实验箱的使用方法。 2. 了解基本门电路逻辑功能测试方法。 3 ．学会用与非门组成其它逻辑门的方法。 二、实验准备： 1. 集成逻辑门有许多种，如：与门、或门、非门、与非门、或非门、与或 非门、异或门、OC 门、TS 门等等。但其中与非门用途最广，用与非门可以组成 其它许多逻辑门。 要实现其它逻辑门的功能，只要将该门的逻辑函数表达式化成与非-与非表 达式，然后用多个与非门连接起来就可以达到目的。例如，要实现或门 Y=A+B ， 根据摩根定律，或门的逻辑函数表达式可以写成：Y= A B ，可用三个与非门连 接实现。 集成逻辑门还可以组成许多应用电路，比如利用与非门组成时钟脉冲源电 路就是其中一例，它电路简单、频率范围宽、频率稳定。 2. 集成电路与非门简介： 74LS00 是“TTL 系列”中的与非门，CD4011 是“CMOS 系列”中的与非 门。它们都是四-2 输入与非门电路，即在一块集成电路内含有四个独立的与非 门。每个与非门有2 个输入端。74LS00 芯片逻辑框图、符号及引脚排列如图 3.2.1 (a)、(b)、(c)所示。CD4011 芯片引脚排列如图 3.2.2 所示。 Vcc A ＆ Y R1 R2 R3 B T3 (b) T1 T2 Vcc T4 14 13 12 11 10 9 8 A B Y ＆ ＆ T5 R4 R5 R6 ＆ ＆ T6 1 2 3 4 5 6 7 GND (a) (c) 图3.2.1 VDD 14 13 12 11 10 9 8 ＆ ＆ ＆ ＆ 1 2 3 4 5 6 7