Y1-xRxBa2Cu3O7-δ体系R%3dEu、Gd)的正电子寿命与超导性研究.pdfVIP

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2017-08-21 发布于安徽
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第卷第期低温物理学报 ! ! # $%’! (%’# !! !! !! !! !! 年月 +,-(./.0123(4516517 8.9:.34823.:,;/-+/ ! !))# ** (%’ !))# 体系 ! 的 ! $ %()+ -.)/0 #! ! ’ * ,#! 正电子寿命和超导性研究薛运才陈镇平苏玉玲郝俊红 !! !! !! 党凯王坦吕全才 !! ! !! 郑州轻工业学院技术物理系!郑州 =#)))! ! 本文报道了对 # $两个系列样品的超导电性研究结果首 ; 3 ?@+A1 C.A DE ’ !! *! ! ! B ! 先!发现随着 # 掺杂量的增加! 和的晶胞 .A DE ! ; .A?@+A1 ; DE?@+A1 *! ! ! B *! ! ! B # ! ! 体积均随之增大!但所有样品均保持与样品相同的单相正交结构%正电子平均寿命实 ;F*!B 验结果表明链处局域电子密度随 # 掺杂浓度的增加而减小!说明 # +AF1 # .A DE ! .A DE $ 对位的替代引起晶胞结构参量的变化不仅改变了位的电子密度!同时也影响了 ; ; +AF1 链周围的电子密度分布%超导转变温度随 # 掺杂浓度增加而略有增加!反映了 % .A DE ! # 掺杂虽然改变了体系的局域电子结构!但没有破坏超导所需的链与面之 .A DE +AF1 +A1