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附: 缩略语中英文对照表
A
ACF Anisotropic Conductive Film 各向异性导电薄膜
ADC Analog-Digital Converter 模数转换器
AES Auger Electron Spectrometer 俄歇电子能谱仪
AFFS Advanced FFS
AFLC Anti-Ferroelectric Liquid Crystal 反铁电液晶
AMLCD Active Matrix Liquid Crystal Display 有源矩阵液晶显示器件
AMOLED Active Matrix Organic Light Emitting Display 有源矩阵有机电致发光二极管
APCVD Atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition常压化学气相沉积
AP Plasma Atmospheric Pressure Plasma 常压等离子清洗
AQK Aqua Knife 水刀清洗
a-Si Amorphous Silicon 非晶硅
AS-IPS Advanced-Super-In-Plane Switching 超高级面内切换宽视角技术
B
BCE Back Channel Etched 背沟道刻蚀型
BEF Brightness Enhancement Film 增亮膜
BEW Blurred Edge width 边界模糊区域宽度BM Black Matrix 黑色矩阵或黑矩阵
BS Back Channel Stop 背沟道保护型
BJ Bubble Jet 气泡清洗方法,又被称为C
CCD Charge Coupled Device 电荷耦合器件
CCFL Cold Cathode Fluorescent Lamp(Light)冷阴极荧光灯
CD Critical Dimension 显影后或刻蚀后的图形尺寸
CF Color Filter 彩色滤光片
CFI Color Filter Integration 彩色滤光片集成
CIE Commission Internationale de lEclairage 国际照明委员会
CJ Cabitation Jet 用加了高压的去离子水与空气混合后所产生的大量气泡来去除灰尘的一种清洗方法
COA Color Filter on Array 阵列上彩色滤光片
COF Chip On Film 薄膜芯片COG Chip On Glass 玻璃芯片集成
COP Cycio?Olefins?Polymer 环烯烃聚合物
CRT Cathode Ray Tube 阴极射线管
CVD Chemical Vapor Deposition 化学气相沉积
CSTN Color STN 彩色超扭曲向列型D
DAP Depth AES Profiles 俄歇深度剖面分析
D.C. Direct Current 直流
DICD Development Inspection CD 显影后光刻胶之间的间距
DI water Deionized water 去离子水
DLDS Dynamical Low Discrepancy Sequences 网点图案生成方法
DLP Digital Light Processing 数字光处理器
DMD Digital Micromirror Device 数字微镜装置
DRCR Contrast Ratio in Dark Room 暗室对比度
E
ECR Electron Cyclotron Resonance 电子回旋共振刻蚀
EMI Electro Magnetic Interference 电磁干扰
EML Emission layer 发光层
EPD End Point Detection 刻蚀结束点的测量
EPD Electron
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