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x射线平板探测器的DOE测量与分析
·陈娟
(北京航空航天大学机械工程及自动化学院硕士研究生)
作者简介
陈娟：2001年7月北京航空航天大学机械工程及自动化学院本科毕业，获学
化学院机械电子工程学科无损检测研究方向攻读硕士学位，获硕士学
位，现为深圳比亚迪公司工程师。
导师简介
学位，现任北京航空航天大学机械工程及自动化学院教授，博士研究生
院进修。主要研究方向有计算机测控技术和数字图像处理技术等。研制
的电火花线切割机床系统曾获航天工业总公司科技进步二等奖，在国内
外公开发表学术论文50余篇。
x射线平板探测器的DQE测量与分析
摘要：如何针对一种特殊的虑用场合来选择合适的平板探测器，需要对平板探测器的性能进行全面的分
像质姑进行了全面表述，被许多专家认为是评价x射线平板探测器成像质最最糟确的标准，而噪声功率谱
适刖n丁其他的X射线数字设备，可以用于不同x射线数字成像设备性能之间的比较，为选择合适的设备
提供了一种可供参考的方法。
关键词：平板探测器，检测域子效率，噪声功率谱，调制传递函数
V ∥ y p
for
Measurementand ofanIndirectFlatPanelDetector
AnalysisofDQE X-Ray
Digital
Abstract：Howtomakeadecisionaboutwhichdetectorismost fora isa
suitable
particularapplication
it needs the ofthesedetectors．Detective
performance quantum
characterizingimaging
combinessome as and describestheOVCrall
resolutionincidentdose，etc．It
importantconcepts，snchnoise，spatial
of andis tobe for the of
performancesystem consideredthemostaccurate assessing qua!ity
parameter imaging
detectormost modulationtransfer
x-raydig“al by experts．Noisepowerspee：cmm(NPS)and
inthemeaSurememof measurememmethodsfor and are in
DQE．The NPS，MTF described
integralparts
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