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在验证莫塞莱定律的实验中吸收边如何选取.pdf
在验证莫塞莱定律的实验中吸收边如何选取?
作者: 秦闻
摘要
在检验莫塞莱定律实验中 1 R Z =−σ ,关于λ 的选取问题,根据《原子
( k ) k
λ
k
物理学》(第三版)莫塞莱定律的λ 指的是元素的X射线特征谱。为了检验莫塞
k
莱定律,其中由于各个元素的特征谱不能够直接测量,我们的实验中选取的λ 是
k
透射率突变处斜线的中间确定吸收边的位置,并以吸收边作为公式中的λ 。跃
k
迁电子的轨道离核越远,其能量越接近逐出电子的能量,所产生的特征谱越接近吸
收限。估算钼靶产生X光K 系列特征谱所需要的最小电子加速电压,用晶体衍射
实验来验证。
关键词
特征谱λk 吸收边的选取 最小电子加速电压
引言
-8 −11
波长在10 m到10 m范围的电磁波称为X光。当高速运动的电子和原子相碰撞时,
一般都能发射X光。如果高速电子和原子中的内层电子相互作用,使其跃迁到外
层(称为激发)甚至脱离原子的束缚(称为电离),从而在原子的内层形成空位。
这时,外层电子就会向内层电子跃迁,以填补空位,并发出波长较短的光子,通
常为X光。Moseleyslaw反映各元素X射线标识谱规律的实验定律。验证莫塞莱定
律实验中的λ (X光的特征谱)可以用吸收边来代替吗?实验中吸收边应如何选
k
取?
正文
1.原理依据及问题提出:
“在钼靶上打出的X射线谱分为两部分,一是连
续谱,在图中呈现一个山丘模样,这是韧致辐射
产生的X射线谱;一是叠在连续谱上的两个尖峰,
就是特征辐射产生的X射线谱,两峰所对应的波
长位置与外加电压无关。各元素的特征X射线谱
有相似的结构,各元素的特征X射线能量值(或
波长值)各不相同,被用来作为元素的标识,所
以又可以称为元素的标识谱。元素的标识谱是原
子中内层电子的跃迁产生的λ 。” [1]
k
图一 钼靶上打出的X射线发射谱
横坐标为X射线经NaCl晶体的入射角
纵坐标为收集极记录X射线强度
如果把各元素的特征X射线的频率的平方根对原子序数作标绘,就会得到线
性关系。这就是莫塞莱当年得出的规律,称为莫塞莱定律。
产生K 系X射线的阈能大于K 系X
射线本身的能量 [2]
图二为钼吸收片的透射率与X射线能
量的关系。K α和K β是钼的标识K 系X射
线的能量.
以钼为例,它的两个特征谱和吸
收边的关系右图二所示。右图横坐标
为X射线能量值,纵坐标为钼吸收片
的透射率,吸收边对应的能量略大于特征谱对应的能量。(图来自《原子物理学》
第三版)
什么是阈能?举例来说,当n=1层中出现一个空穴时,n=2层中的电子感受
到的是Z-1个正电荷的作用向内层跃迁时,发出X光辐射。K 系X射线的阈能是从
n=1层移去一个电子所需的能量,X光若要电离某一壳(如k层)的电子,则其能
量E必须大于该
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