MC2000超声波检验.doc

MC2000 超声波检验 MC2100 总则 MC2110 适用范围 本章阐述的一般要求适用于本规则规定的超声波检验。 这些要求适用于单探头（具有一个或两个压电晶片）反射法。 超声波检验涉及到的参照技术，除非另有规定，均以手工来完成。在实施之前，也可向承包商提出给出的总结结果至少是等效的其它技术。提交的技术应附有符合MC2170的支持性说明。 MC2120 一般要求 MC2121 检验人员资格 超声波检验应由按MC8000规定取得资格证书的人员来实施。 MC2122 超声波检验文件 超声波检验必须按照一系列适当确认的文件（操作规程、工序卡、细则卡）所规定的要求进行。这些文件应符合适用章节的要求，并至少包括以下内容： ——被检验物项的类型、尺寸、范围和所用材料的类型； ——本规则和其它适用文件的相关章节的编号； ——检验设备：脉冲发生器、探头、耦合介质、自动检验仪器（如使用）、标定试块和对比试块。 ——检验实施条件：试验区域和表面条件； ——检验规程：波的传播角度和传播方式（接触法或浸液法）、扫查条件（表面、方位和检验方向）； ——记录水平； ——验收准则。 MC2130 超声波检验设备 MC2131 超声波检验仪器 脉冲反射型发生器：可配用标称频率为1～6MHZ的探头，此频率适应相关技术规范的要求。 在示波幅度于示波屏全高的至少80%内，垂直线性误差不超过示波幅度的5%。 在整个示波屏有效宽度内的水平线性误差不超过时间基准的2%，测量应该按照NF A09-320标准中的规定进行。 每台设备在下列情况下均应该进行校验： ——设备验收时； ——修理后； ——至少每年一次。 MC2132 探头 探头的标称频率和压电晶片的尺寸，应根据被检验的材料的类型和尺寸选定，并应符合有关章节的要求。纵向波和横向波的频率一般在1～6MHz之间。 ???? 频率和折射角应在采购技术规范中逐一加以规定。必要时，也可使用其它参数值。 ??? ?压电晶片可以是圆形或矩形(手工检测探头矩形晶片的长和宽之比应≤1.5)。 ???? 压电晶片的最大允许尺寸在10～30mm之间。 ???? 在普通探头不适用的特殊情况下，可采用特殊探头(双晶体探头、折射纵波探头、可变角探头、小型探头等)。 MC2133 耦合介质 ???? 可使用的耦合介质有： ? ——掺润湿剂或不掺润湿剂的水； ?——糊剂； ? ——油； ? ——油脂； ? ——掺水的纤维素胶等。 ??? ?耦合介质的性能，在整个试验中应保持稳定。 ???? 试验结束后，如果耦合介质有碍后续的加工或检验工作，则应予以清除。对于完工的奥氏体钢或镍基合金零件，应将表面上的耦合介质清除掉。 MC2134 标定试块和对比试块 MC2134.1? ?标定试块 采用的标定试块应按AFNOR标准NF?A09—310的规定。 MC2134.2 对比试块 对比试块可用来自下列各项的材料制造： ???? ——被检验件的延长部分； ???? ——材料和热处理状态均与被检验件相同的边角料； ???? ——声学特性接近于被检验材料的产品。 ???? 对比试块的扫查面应经过机加工，表面粗糙度Ra不超过6.3μm。对比试块的几何形状、反射体的尺寸和位置(需要时)均在本规则的相关章节中予以规定。需要时，反射体的位置和数量。应使被检零件的整个厚度都能受到检查。 ???? 采用底面回波法的对比试块，其厚度应与被检验件厚度相等，其允许误差： ???? ——厚度≤50mm的，为±20％； ??? ?——厚度50mm的，为±10mm。 MC2140 检验实施要求 MC2141? ?表面准备 ??? ?扫查面应无油漆、无疏松氧化皮、无干耦合介质、以及无所有其它可能影响超声波在被检测件中传播、或有碍探头自由移动、或引起判断误差(由于声波转换造成的干扰波)的表面杂质和不平整。 ??? ?除非另有规定外，表面粗糙度Ra按MC7200要求测定，不得超过12.5μm。 MC2142 探头的校正与时基校准 ???? 斜探头波束入射点的测定，采用MC2134.1规定的标定试块。 ???? 时间基准的校准和特别是斜探头折射角的测定(测得角度与检验文件规定值间的偏差不得超过2°)按下述规定进行： ——铁素体钢零件，采用MC2134.1规定的标定试块； ——奥氏体钢和高镍合金：采用装于试验件上的人工反射体；试验件材料的声学特性接近于被检验的材料。采用这种方法达到的精度，应与铁素体钢采用标定试块时所达到的精度为同样范围。 用直探头检测时，可在被检验件上具有两个平行表面的一段上进行时间基准校准。 ???? 每次检验之前都应进行上述操作。 MC2143 灵敏度调节 应利用响应