400MHz250WVDMOS功率场效应晶体管.pdfVIP

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维普资讯 第 19卷第 ¨期 半 导 体 学 报 Vo1.19+No.11 1998年 11月 CHINESEJOURNALOF SEMICONDUCTORS NOV.,1998 400MHz250W VDMOS功率场效应晶体管 / 刘英坤 杨增敏 郎秀Z-王占利 n 何玉樟 目仲志 李 勇 周晓黎 (电子部第十三研究所 石家庄 o5o051) 400MHz下连续波输出250W,功率增益 10dB的垂直双扩散场效应晶体管 (VD—MOSFET).采用Mo栅降低 串联电阻t400MHz下用共源推挽结构成功地进行了并联工 作.在 Vd.一50V下实现了连续波输出250W ,增益 10dB,漏极效率60 . EEACC:1220,2560R , . - 孛’于, 屋品孝, 近几年来硅功率MOSFET广泛用于各种固体功率系统.如高频列率放大器.信号发生 器,高速开关等.这主要是因为作为功率器件 MOSFET较双极 晶体管相 比具有 下优 . . 点 【l: (1)漏极 电流是负温度系数.热稳定性好、无二次击穿} (2)优良的线性性能; (3)输入阻抗高,电路结构简单; (4)开关速度高. 特别是DMOS作为功率器件,因为它具有高的漏源击穿电压.而且不会引起热斑.所以 DMOS在高频和大功率方面近几年取得了较大进展.例如,900MHz100W 的VDMOSE, 400MHz100W 的VD—MOS(UF28100) ,2.45GHz7.2W 的LDMOSE‘等 已有报道.但应 用在电子对抗领域的400MHz下输出功率大于200W 的DMOS器件,目前国内外尚未见报 道 ,本文报道了我们开发研制的400MHz250W CW 10dB增益 ,漏极效率 6O 的高性能 vDMOS器件. 本器件的设计研制难度在于解决高频和大功率这一矛盾.而高频和大功率与器件的结 刘英坤 男,1965年出生,硕士,高级工程师,主要从事硅徽被功率器件研制 扬增敏 男,1944年出生,高级工程师,主要从事硅微波功率器件的测试研究 郎秀兰 男,1967年出生,工程师,主要从事硅徽被功率器件的研制 王占利 男,1972年出生,动工 ,主要从事硅截艘功率器件的测试研究 1g98—04—02收到,1998—05—11定祷 维普资讯 半 导 体 学 报 l9卷 构和外延材料的参数选取是分不开的,因此本器件的设计主要从以下几个方面考虑. 2.1 功率设计考虑 众所周知,器件输出功率Po与漏极工作 电压V 和漏极 电流Jn成正比,因此提高Po 就需要提高v 和 ,。.提高v一就必须提高器件的漏源击穿电压,即提高外延材料 电阻率,增 加外延层厚度,但这与降低导通 电阻相矛盾.所 以,通常是在保证V 的条件下,尽量提高 . ,。,根据 ID )一c (v,-V )。/2I.,式中C 为栅 电容; 为电子迁移率;Z为栅宽;L为 淘道长度}v;为栅源 电压; 为闽值 电压.提高 ,o就需要增加总栅宽,缩短淘道长度 工,但 L太短会影响击穿

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