2009年材料现代分析方法复习和思考题(缩减版本final).docVIP

X射线复习和思考题 （陈老师讲课内容） 一、名词解释 1、物相分析： 2、零层倒易面： 3、X射线： 4、K(射线与K( 射线、 5、短波限 6、吸收限 7、质量吸收系数 8、晶带 10、二次特征辐射(X射线荧光辐射) 二、简答，论述，计算题 1、辨析点阵与阵胞、点阵与晶体结构、阵胞与晶胞的关系． 2、在面心立方晶胞中标明（001）、（002）和（003）面，并据此回答：干涉指数表示的晶面上是否一定有原子分布？为什么？ 3、判别下列哪些晶面属于[]晶带：（），（），（231），（211），（），（），（），（），（），（212）。 4、试计算（）及（）的共同晶带轴。 5、何为晶带，说明晶带定律？ 6、何为倒易矢量，它的基本性质是什么？ 7、已知某点阵｜a｜＝3?，｜b｜＝2 ?，γ＝60°，c∥a×b，试用图解法求r*110与r*210· 8、试述X射线的定义、性质，连续X射线和特征X射线的产生、有何应用？ 9、辨析概念：x射线散射、衍射与反射。 10、X射线与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用？ 为什么衍射线束的方向与晶胞的形状和大小有关？ 当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个（hkl）反射线的光程差是多少？相邻两个（HKL）反射线的光程差又是多少？ 13．α-Fe为立方系晶体，点阵常数a=0.2866nm，如用CrλKα=0.22909nm进行摄照，求(110)和(200)面的衍射布拉格角。 14、CuKα射线（λKα＝0.154 nm）照射Cu样品。已知Cu的点阵常数a＝0.361 nm，试分别用布拉格方程与厄瓦尔德图解法求其（200）反射的θ角。 CuKα辐射（λ=0.154 nm）照射Ag（FCC）样品，测得第一衍射峰的位置2θ=38°，试求Ag的点阵常数。 16．简述衍射产生的充分必要条件？ 17．是否所有满足布拉格条件的晶面都产生衍射束？为什么？ 18．计算结构因数时，基点的选择原则是什么？如计算体心立方点阵，选择（0，0，0）、（1，1，0）、（0，1，0）与（1，0，0）四个原子是否可以？如计算面心立方点阵，选择（0，0，0）、（1，1，0）、（0，1，0）与（1，0，0）四个原子是否可以，为什么？ 19、推导出体心立方晶体的消光规律？ 20、试用厄瓦尔德图解来说明德拜衍射花样的形成。 21、在试用简单立方（a=0.300nm）结构的物质所摄得的粉末图样上，确定其最初三根线条（即最低的2θ值）的2θ与晶面指数(HKL)。入射用CuKα（λKα＝0.154 nm）。 X射线实验方法在现代材料研究中有哪些主要应用？ 24．何为零层倒易截面和晶带定理？说明同一晶带中各晶面及其倒易矢量与晶带轴之间的关系？ 25. 说明为什么对于同一材料其λKλKβλKα? 26. 特征X射线与荧光X射线的产生机理有何不同？ 27. 为什么说衍射线束的强度与晶胞中原子位置和种类有关？获得衍射线的充分条件是什么？ 试述X射线粉末衍射法物相定性分析过程及注意的问题。 物相定量分析的原理是什么？试述用K值法进行物相定量分析的过程。 试述原子散射因数f和结构因子F的物理意义,结构因子与哪些因素有关系？ 推导出底心立方和金刚石立方晶体的消光规律。 衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？ 如何根据X射线衍射区分简单立方和面心立方？ 35. 写出简单P点阵，体心I点阵，面心F点阵的系统消光规律。 36. 物相定性分析的基本方法是什么？ 37. 滤波片元素的选择规则是什么？ 38．影响X射线连续谱强度的因素是什么？ 概论，电子显微分析及电子能谱复习和思考题 （索老师讲课内容） 在电镜中，电子束的波长主要取决于什么？ 什么是电磁透镜？电子在电磁透镜中如何运动？与光在光学系统中的运动有何不同？ 电磁透镜具有哪几种像差？是怎样产生的，是否可以消除？如何来消除和减少像差？ 什么是分辨率，影响透射电子显微镜分辨率的因素是哪些？ 什么是电磁透镜的分辨本领？主要取决于什么？为什么电磁透镜要采用小孔径角成像？ 说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么？如何提高电磁透镜的分辨率？ 试比较光学显微镜成像和透射电子微镜成像的异同点， 金属薄膜样品的制备过程有哪些特点？怎样才能制备出合乎要求的样品？ 为什么透射电镜的样品要求非常薄，而扫描电镜无此要求？ 什么是衍射衬度？它与质厚衬度有什么区别？ 何谓衬度？TEM能产生哪几种衬度像，是怎么产生的，都有何用途？ 画图说明衍衬成像原理，并说明什么是明场像，暗场像和中心暗场像。 制备薄样品的基本要求是什么？具体工艺如何？双喷减薄与离子减薄各适合于制备什么样品？ 什么是消光距离？ 层错和倾斜界面（两块