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EDA 技术实用教程 第 3 章 FPGA/CPLD 结构与应用 3.1 概 述 3.1 概 述 3.1 概 述 编程工艺 熔丝 反熔丝 EPROM EEPROM SRAM FLASH 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 GAL: 通用阵列逻辑器件 与阵列可编程,或阵列不可编程! 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.2 简单可编程逻辑器件原理 3.3 CPLD的结构与工作原理 3.3 CPLD的结构与工作原理 3.3 CPLD的结构与工作原理 3.3 CPLD的结构与工作原理 3.3 CPLD的结构与工作原理 3.3 CPLD的结构与工作原理 3.3 CPLD的结构与工作原理 3.4 FPGA的结构与工作原理 3.4 FPGA的结构与工作原理 3.4 FPGA的结构与工作原理 3.4 FPGA的结构与工作原理 3.5 硬件测试技术 3.5 硬件测试技术 3.5 硬件测试技术 3.5 硬件测试技术 3.6 FPGA/CPLD产品概述 3.6 FPGA/CPLD产品概述 3.6 FPGA/CPLD产品概述 3.6 FPGA/CPLD产品概述 3.7 编程与配置 3.7 编程与配置 3.7 编程与配置 3.7 编程与配置 3.7.2 使用PC并行口配置FPGA FPGA:ICR(in-circuit reconfigurability)在线可重配置方式 ALTERA器件中,有7种配置模式 配置器件模式 PS(被动串行) PPS(被动并行同步) PPA(被动并行异步) PSA(被动串行异步) JTAG AS(主动串行) FPGA器件的三种状态 配置状态 用户模式 初始化状态 3.7 编程与配置 3.7 编程与配置 3.7 编程与配置 3.7 编程与配置 习 题 KX康芯科技 4．可编程连线阵列(PIA) 图3-30 PIA信号布线到LAB的方式 KX康芯科技 5．I/O控制块 图3-31 EPM7128S器件的I/O控制块 KX康芯科技 3.4.1 查找表逻辑结构 图3-32 FPGA查找表单元 图3-33 FPGA查找表单元内部结构 LUT :Look up table KX康芯科技 3.4.2 Cyclone/CycloneII系列器件的结构与原理 图3-34 Cyclone LE结构图 KX康芯科技 3.4.2 Cyclone/CycloneII系列器件的结构与原理 图3-35 Cyclone LE普通模式 KX康芯科技 3.4.2 Cyclone/CycloneII系列器件的结构与原理 图3-36 Cyclone LE动态算术模式 KX康芯科技 3.4.2 Cyclone/CycloneII系列器件的结构与原理 图3-37 Cyclone LAB结构 KX康芯科技 3.4.2 Cyclone/CycloneII系列器件的结构与原理 图3-38 LAB阵列 KX康芯科技 3.4.2 Cyclone/CycloneII系列器件的结构与原理 图3-39 LAB控制信号生成 KX康芯科技 3.4.2 Cyclone/CycloneII系列器件的结构与原理 图2-40 快速进位选择链 KX康芯科技 3.4.2 Cyclone/CycloneII系列器件的结构与原理 图3-41 LUT链和寄存器链的使用 KX康芯科技 3.4.2 Cyclone/CycloneII系列器件的结构与原理 图3-42 LVDS连接 KX康芯科技 3.5.1 内部逻辑测试 图3-43 边界扫描电路结构 3.5.2 JTAG边界扫描测试 KX康芯科技 表3-1 边界扫描IO引脚功能 3.5.2 JTAG边界扫描测试 引 脚 描 述 功 能 TDI 测试数据输入(Test Data Input) 测试指令和编程数据的串行输入引脚。数据在TCK的上升沿移入。 TDO 测试数据输出(Test Data Output) 测试指令