高层下行底噪累积效应以及其PG,EG对比分析解决案例.docVIP

高层建筑下行底噪累积效应 （高层手机脱网及下行质差现象分析） 1、本报告研究意义及计划解决的问题 高层建筑边缘地区（最典型的如窗户边）手机通话下行质差问题是比较普遍的现象，在高层建筑的投诉中，有一定的共性。目前通常都认为，高层收到的大站信号杂，飘忽不定，导致用户感知较差，一般来说通过补点可以解决这个问题。但是，最近西北区从处理一起特殊的VIP投诉案例出发，对高层手机在高场强（≥-75dBm）下脱网及质差问题进行了研究，发现高层建筑窗边手机脱网及下行质差具有普遍共性，产生的原因应为之前被忽视的基站累积噪声效应，导致微蜂窝信号被淹没在下行底噪之中，导致脱网或下行质差。 本研究详细分析了高层建筑用户手机脱网和质差的共性原因，并打算通过频率规划或微蜂窝设计的方法根本性解决该问题。 2、辉煌大厦脱网投诉排查 10年5月21日，接到辉煌大厦VIP投诉，窗边电话听不清，手机信号满格会突然脱网。测试人员第一时间赶赴现场，进行测试，从录回的log来看，手机信号在接收强度为-70dBm左右时，持续收不到BCCH下行广播的消息，造成脱网，之后执行无记忆的小区重选流程，因为微蜂窝场强绝对占优，又重选至室内小区，时间不长，又脱网，如此反复。在用户看来，手机总是处于满格――无信号――满格状态，网络不稳定。 在对辉煌大厦的再次排查中，首先检查参数和终端。CCCH CONFIG为0，多个终端均在该大厦有同样脱网现象，排除个别终端不支持双CCCH问题。因此将故障定位于两点：干放饱和与下行噪声干扰。 现场排查，干放不存在饱和现象，即使断开干放，楼内仍然有下行底噪抬起现象，整个下行频段底噪抬起较高，将频谱仪天线指向窗外，底噪抬起会增加，楼内部底噪抬起降低较快。进一步手持天线和频谱登上楼顶天面测试，发现底噪抬起无任何方向性，天线指向任何方向，收到的干扰场强几乎一致。 从辉煌大厦接收到的干扰频谱来看，完全落在930MHz~960MHz内，在频率边缘衰落非常快，可以排除系统外设备因为泄漏或谐波造成干扰的可能性，从无方向特性来看，又基本排除阻断器干扰，因此，此干扰电平可以确定为高层建筑收到相当数量的基站发射功率所形成的噪声累积效应。 为了进一步确定这个问题，在总高22层的学知轩站点进行了一次较详细的测试。 3、学知轩测试结果 学知轩站点与辉煌大厦分属两个片区，地理位置很远，可以排除相关联的无线环境影响。该站总高22层，楼内天线点数较多，楼内通话品质较好。且该站主机房在楼顶，分布采用自上而下的建设方式，17层以上完全由无源器件直接耦合MOTO主设备信号覆盖，可以完全排除干放因素的影响，为研究高层手机脱网及下行质差问题的理想标本。 10年5月31日，在该楼11层以上组织了详细测试，隔层记录频谱，并拨打测试。从测试结果看，下行噪声的累积是逐层抬高的，对比一楼的下行噪声在-95dBm以下，到了顶层已经高达-60dBm，在辉煌广场的楼顶上录得的频谱底噪甚至高达-50dBm以上。但是，该噪声在楼内衰落是非常快的，在14层做过测试，离窗户直线距离5m左右，底噪衰落已经到达-80 dBm左右。 在学知轩22层，锁定微蜂窝，手机放置与北向窗户边，手机不停反复脱网――重选――脱网过程，拨打电话，语音质量基本徘徊在5～7之间，和辉煌大厦故障现象一致。在楼内21层随机调查了几户不同方向的业主，均反映窗边信号不好，室内信号较好。现场测试过程中，将学知轩的PG频点改为EG频点，窗边的质量明显好转，这和所记录的频谱也是十分吻合的。 4、理论分析 从目前观察到的现象和测试结果看来，高层收到的大站数量增加过快，并且层高超过一定尺度以后，信号没有主导，就算有个别较强的信号也不可避免收到同、邻频干扰影响，综合表现为下行底部噪声的抬起，如果没有一个CI的场强超过底噪电平9dB以上（GSM协议要求），将会因为信噪比恶化而导致语音质差，严重表现为脱网现象。而之前通过补点解决类似投诉，实际上是加强了投诉点的信噪比，但不能从根本上解决这个共性问题。 本报告认为，两个原因的共同作用，导致高层建筑的底噪高于低层建筑： 一是随着楼层的增高，遮挡物迅速减少，建筑物能够接收到的大站数量随高度呈平方倍的增加； 二是大站发射天线的旁瓣作用，大站天线发射的垂直方向图如下所示，上旁瓣离开主瓣角度较大，尽管大站有一定的下顷角度，但是上旁瓣的发射仍然是向上的，这些发射的功率将会被高层建筑物所接收。 两半波振子天线垂直方向图（带反射板） 5、进一步的工作计划 针对目前的认识，下一步工作计划安排如下： 在凌晨闲时再做一次测试，评估闲忙时的下行噪声变化。 在900M和1800M站点之间做一次对比测试，评估两网之前的差异。 搜集投诉数据，分析之前关于类似现象投诉的处理，分析共性。 在前期测试基础之上，将建议微蜂窝频点规划问题及微蜂窝优先上1800M