自动控制原理实验报告(四).docVIP

自动控制原理实验报告(4) 时间：2013年6月 日 地点： 实验人（签名）： 同组人： 实验结果确认及设备验收（签名）： 2013年6月 日 1 实验名称：线性系统的频域分析惯性环节的频率特性测试电路见图-2-1，改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图，及频率特性曲线，並计算和测量其转折频率，填入实验报告。 一阶惯性环节的转折频率： 图-2-1 惯性环节的频率特性测试电路 图-2-1电路的增益K=1，惯性时间常数 T=0.1，转折频率： 频率特性测试电路如图-2-2所示，其中惯性环节（A3单元）的R用元件库A11中可变电阻取代。 1．被测系统模拟电路图的构成如图-2-2所示（同二阶闭环系统频率特性测试构成），测试其幅值穿越频率、相位裕度。 2．改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图，及开环频率特性曲线，並计算和测量其幅值穿越频率、相位裕度，填入实验报告。 根据原理图构造实验电路 观察和测量输入和输出波形图。 将所测得的数据填入实验数据表中 实验完后截图保存，采用多组数据观察计算。 关闭电源，整理仪器，老师检查合格签字后方可离开。 4.1 实验操作 一阶惯性环节的频率特性曲线 （1）构造模拟电路：按图-2-1安置短路套及插孔连线，表如下。 （a）安置短路套 （b）插孔连线 模块号 跨接座号 1 A1 S3，S7，S10 1 信号输入 B1（OUT1）→A1（H1） 2 运放级联 A1（OUT）→A8（H1） 3 测量 A8（OUT）→ B3（ADIN） 4 示波器联接 B1（OUT1）→B2（CH1） 5 A8（OUT）→B2（CH2） 运行、观察、记录： 选择系统的频域分析／一阶惯性环节频率特性曲线，将弹出频率特性扫描点设置表，用户可在‘频率特性扫描点’设置表中根据需要填入各个扫描点角频率，设置完后，点击《确认》后，将弹出‘频率特性曲线’实验界面，点击《开始》，即可按表中规定的角频率值，按序自动产生多种频率信号，画出频率特性曲线。 测试结束后（约五分钟），将显示被测系统的对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和幅相曲线（奈奎斯特图），界面显示选择选择了伯德图。 在频率特性曲线界面上移动各标尺测量出一阶惯性环节的转折频率。 （1）构造模拟电路：安置短路套及插孔连线表同笫.2.2 节《二阶闭环系统的频率特性曲线测试》。 运行、观察、记录： 选择系统的频域分析／二阶开环系统频率特性曲线，将弹出频率特性扫描点设置表，用户可在设置表中根据需要填入各个扫描点角频率，设置完后，点击《确认》后，将弹出‘频率特性曲线’实验界面，点击《开始》，即可按表中规定的角频率值，按序自动产生多种频率信号，画出频率特性曲线。 测试结束后（约五分钟），将显示被测系统的对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和幅相曲线（奈奎斯特图），界面显示选择选择了开环-伯德图和奈氏图。 幅频穿越频率 ，相位裕度γ的测试 在开环对数幅频曲线中，移动L标尺和标尺到曲线处，可读出幅频穿越频率。 穿越频率自动搜索点击搜索穿越频率键，将自动搜索并补充搜索过的点，直到搜索到谐振频率，自动停止搜索，该点测试成功后，在特性曲线上将出现‘黄色’的点，即谐振频率，同时在界面右侧显示该系统的穿越频率角频率点，及该点的L、、Im、Re。界面“显示选择”选择了“开环-伯德图”。 由于本实验机所用的电容误差较大，因此其实验结果的计算值进行比对有误差。。 注：搜索时，请确保谐振峰值的两侧各有已测的测试点！ 在开环幅相特性曲线上测量相位裕度γ 在开环幅相特性界面区域内点击一下，则会出现相位裕度的标尺，然后拖动该标尺使之与单位圆与系统奈奎斯特曲线交点相交，标尺与负实轴的夹角，即为系统的开环相位裕度γ，界面显示选择选择了开环-伯德图。 后，点击开始，硬件系统开始采样，并通过串行接口传送到PC，程序计算出对应频率的幅值和相角，并用红点标示在对数坐标系中，将所有的采样点数据都连成线即可得到最终系统的对数幅频特性曲线，从曲线图中可以量出转折点频率，及转折点的幅值； （2）在二阶开环系统的实验中，按说明连接好电路后，打开电源，软件端设置好采样频率值，点击开始，等待几分钟后各个曲线采集完毕，本实验中需要使用开环对数幅频曲线，量出穿越频率，同时也可以自动搜索出穿越频率。在奈奎斯特曲线开环-伯德图和系统固有频率。 4.3实验结果及分析 一阶惯性环节 按下表中的值设置和，测量实验值，并与理论值比较： T(s) (rad/s)