分子印迹纳米粒电色谱法手性分离佐匹克隆地研究.pdfVIP

分子印迹纳米粒电色谱法手性分离佐匹克隆的研究 刘晓宗海燕 黄艳萍 刘照胜* 天津市临床药物关键技术重点实验室，天津医科大学药学院，天津 300070 摘要 以右旋佐匹克隆(d-ZOP)为模板印迹的液晶基质分子印迹聚合物(MIP) 对外消旋佐匹克隆进行手型拆分，用毛细管电色谱(CEC)表征MIP颗粒对外消旋 佐匹克隆的分离性能。在最佳毛细管电色谱条件下，外消旋佐匹克隆能达到基线 分离，分离度Rs达到5.60，d-ZOP的柱效达到15800，分离因子α达到1.20。结 果表明该MIP颗粒对外消旋佐匹克隆具有较好的手型拆分能力。 关键词 d-ZOP；分子印迹聚合物；毛细管电色谱；手型拆分 j-分离效果的影1 支长为254nm，l }nceofdiffer Aceticacid-so 恩的影响。流i kV。 atpHandcot iumacetate, ngYP,LiuZS.Chromatogra~ WJ．工Chromatogr.A,2009, 斗学基金资助(项目