JTAG边界扫描技术的研究与设计.pdfVIP

JTAG边界扫描技术的研究和设计+ 蔡金青 王锐 高明伦 (合肥工业大学微电子设计研究所，合肥230009) 摘要边界扫描技术是符合IEEE规范的一种测试方法，它的设计的实现降低了测试的复杂度， 适合进行超大规模集成电路的测试。本文介绍了边界扫描技术的概念、特点及其设计方法，给出了 设计的部分框架，讨论了边界扫描技术的应用。 关键词JTAG，边界扫描技术，TAP控制器，边界扫描单元 TheResearchand ofJTAG Design Boundary—scan Test Technology Cai Rui Gao JinqingWang Minglun InstituteofVLSI Universi