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机床数控系统的加速寿命试验方法研究 贺青川1，陈文华L2，潘骏1 (1．浙江理工大学机电产品可靠性技术研究浙江省重点实验室，浙江杭州310018； 2．浙江大学机械设计研究所，浙江杭州310027) 摘要：加速寿命试验是实现对高可靠长寿命产品进行可靠性快速测评的最有效技术。为了实现对机 床数控系统进行可靠性快速测评，对其加速寿命试验方法进行了研究。首先对数控系统的故 障模式和失效机理进行了分析，确定了影响数控系统可靠性的最显著环境应力。在此基础 上，对如何选择加速变量和加速应力水平的问题进行了研究。然后，根据对数控系统进行可 靠性快速测评的目的，以及对电子产品进行加速寿命试验的特殊要求．讨论了恒定应力、步 进(降)应力和序进应力加速寿命试验方法不能被应用于机床数控系统快速测评试验的原 因。随后，本文根据加速寿命试验原理和Nelson提出的累积失效模型，提出了一种适用机 床数控系统的加速寿命试验方法一改进型步进应力加速寿命试验方法。并对其试验原理和优 点进行了说明。最后，对全寿命试验数据的统计分析方法进行了研究。 关键词：数控系统；可靠性；加速寿命试验；失效机理 目前，加速寿命试验被公认为是实现对高可靠长寿命产 0引言 品的可靠性进行快速测评的有效技术fll。利用加速寿命试 为提升我国机床数控系统(以下简称数控系统)的 验可以实现以较低的试验代价(试样数量、试验时间) 可靠性水平，实现对数控系统可靠性快速测评是国内机 获取具有足够精度的产品可靠性信息。进而利用这些信 床行业极其关注的前沿课题。对数控系统进行可靠性快 息实现对产品寿命进行定量评估以及改进产品设计醐。 速测评的目的在于：①获得产品的平均无故障工作时 按照试验应力的加载方式，现有恒定应力、步进(降) 间、维修度等重要可靠性指标；②获得系统及其主要功 应力和序进应力等3种加速寿命试验方法。 能部件的寿命分布；③判定产品失效机理，并在此基础 从当前公开发表或报导的文献资料中可知．对上3 上建立合理的失效物理或数学模型，以便用该模型对产 种加速寿命试验方法进行应用研究时。所涉及到的试验 品的可靠性进行研究和预测；④提前暴露产品中存在的 对象主要局限于电子元器件(如电容器M、IED啕、逻辑 设计缺陷，为进一步改进产品设计提供依据。 IC同等)、机电元件(如电连接器嗍)和一些功能及结构相 数控系统是一种可修的复杂电子产品，它由显示 对简单产品(如圆形电子式电表嗍)，还没有拓展到类似 屏、工业PC、I，o板、DC／DC开关电源等主要功能部 于数控系统这类由大量电子元器件和机电元件组成的产 件。以及控制面板、按键等操作部件组成的一个工作系 品。同时，当前也没有关于论述现有的加速寿命试验方 统。其中，每一个功能部件也都是由许多电子元器件组 法是否适用于数控系统这类产品的文献报导。在这种背 成的子系统。通常，每台数控系统预期的使用年限在10 景下，要实现对数控系统可靠性进行快速测评。只能根 年以上，在此期间其总工作时间在35000～50000小时。据数控系统的故障模式和失效机理、加速寿命试验原 理，结合试验目的以及有限试验资源(如试验设备以及 和浙江省重 +国家科技重大专项(2009zx04014—013—02) 试样的数量)，探索性地确定一种适用于数控系统的加 点科技创新团队(2010R50005) 62 速寿命试验方法。