国军标产品与“七专”产品主要试验对比说明.DOCVIP

国军标产品与“七专”产品主要试验对比说明 单片电路国军标与“七专”产品主要试验对比表 项目 国军标产品 “七专”产品 执行标准 GJB597A+GJB584B+企业军用详细规范 QZJ840615 生产线 军用电子元器件制造国军标认证合格生产线 “七专”产品生产线 质量保证 GJB597A+GJB1208+质量保证大纲（认证机构一年一次审查） “七专”管理办法 筛选 晶片批验收 GJB548B方法5007 无要求 非破坏性键合拉力 GJB548B方法2023 无要求 内部目检（封装前） GJB548B方法2010 QZJ840615第3.2条 温度循环 GJB548B方法1010 -55±3℃,125±3℃, 各30分钟,5次。 恒定加速度 GJB548B方法2001 QZJ840615第3.7.8款 目检15第3.6.1款 老炼 GJB548B方法1015 125±3℃,168h 老炼后电测试 按产品详细规范 QZJ840615第3.6.1款 允许不合格品率 （PDA）计算 所有批≤5% 无要求 最终电测试 常温测试 高温测试 低温测试 按产品详细规范 GJB548B方法5005表1的1和4分组 GJB548B方法5005表1的2和5分组 GJB548B方法5005表1的3和6分组 QZJ840615第3.6.1款 QZJ840615第3.6.2款 QZJ840615第3.6.3款 密封 GJB548B方法1014 QZJ840615第3.8.6款 X射线照相 GJB548B方法2012 无要求 外部目检 GJB548B方法2009 QZJ840615第3.5条 辐射锁定 GJB548B方法1020 无要求 主要检验试验项目对比 电参数测试 常温测试25℃ 常温测试25℃ 高温测试125℃ 高温测试85℃ 低温测试-55℃ 低温测试-55℃ 寿命试验 GJB548B方法1015试验条件C 125℃，1000小时 QZJ840615第3.9条 125℃，240小时 温度循环 GJB548B方法1010（至少100次循环） QZJ840615第3.8.1款（10次循环） 机械冲击 GJB548B方法2002 QZJ840615第3.7.6款 扫频振动 GJB548B方法2007 QZJ840615第3.7.5款 怛定加速度 GJB548B方法2001 QZJ840615第3.7.8款 盐雾 GJB548B方法1009 无要求 密封 GJB548B方法1014 QZJ840615第3.8.6款 内部水汽含量 GJB548B方法1010 无要求 静电放电敏感度 GJB548B方法3105 无要求 混合电路国军标与“七专”产品主要试验对比表 项目 国军标产品 “七专”产品 执行标准 GJB2438A+GJB584B+企业军用详细规范 QZJ840616 生产线 军用电子元器件制造国军标认证合格生产线 “七专”产品生产线 质量保证 GJB2438A+GJB1208+质量保证大纲 “七专”管理办法 筛选 密封前老炼16第3.2条 温度循环 GJB548B方法1010 -55±3℃,125±3℃, 各30分钟,10次。 恒定加速度 GJB548B方法2001 QZJ840616第3.7.8款 目检16第3.6.1款 老炼 GJB548B方法1015 125±3℃,168h 老炼后电测试 按产品详细规范 QZJ840616第3.6.1款 最终电测试 常温测试 高温测试 低温测试 按产品详细规范（计算PDA） GJB548B方法5005表1的1和4分组 GJB548B方法5005表1的2和5分组 GJB548B方法5005表1的3和6分组 QZJ840616第3.6.1款 QZJ840616第3.6.2款 QZJ840616第3.6.3款 密封 GJB548B方法1014 QZJ840616第3.8.5款 X射线照相 GJB548B方法2012 无要求 外部目检 GJB548B方法2009 QZJ840616第3.5条 主要检验试验项目对比 电参数测试 常温测试25℃ 常温测试25℃ 高温测试125℃ 高温测试85℃ 低温测试-55℃ 低温测试-55℃ 寿命试验 GJB548B方法1015试验条件C 125℃，1000小时 QZJ840616第3.9条 125℃，240小时 温度循环 GJB548B方法1010（至少100次循环） QZJ840616第3.8.1款（10次循环） 机械冲击 GJB548B方法2002 QZJ840616第3.7.