X射线荧光分析检出限问题的探讨和建议.pdfVIP

x射线荧光分析检出限问题的探讨与建议 梁国立邓赛文吴晓军甘露 (国家地质实验测试中心，北京，100037) 摘要：本文就有关x射线荧光低含量元素分析的检地限问题进行了多方面的 探讨。从检出艰的定义及其定义下的相对标准偏差到各种不同测量、校准与校正 方法的检出限及其相对应的相对标准偏差进行计算。提出了以定义检出限的相对 标准偏差为基准，对各种测量方法计算出的检出限进行重新界定．从而确认一个 具有可比性的、精度一致的检出限。同时还讨论了仪器与x光管固有杂质元素谱 线对该元素检出限的影响；测量仪器、测量条件与测量时间对检出限的影响：不 同种类试样对检出限的影响；检出限与测定限等问题。 关键词：x射线荧光、检出限、相对标准偏差。 ’ 中图分类号： 文献标识码：A x射线荧光(XRF)分析具有分析速度快，重现性好、准确度高、分析范 围广(包括元素与含量)，试样制各简便，测量不损坏试样，以及对环境无污染 等优点，已广泛应用于地质、矿山、冶金、建材、环境保护、考古和商检等各个 领域的科研与例行品质检验。然而，有关低含量元素分析的检出限问题，在实际 应用中仍存在着不确切的、“简单化”套用的现象，给测定下限的界定留下了许 多不可靠因素。 本文就有关XRF低含量元素分析的检出限问题进行了多方面的探讨。即 就检出限的定义，及其定义下的相对标准偏差；不同测量情况的检出限及其相对 标准偏差；存在谱线重叠干扰扣除的检出限及其相对标准偏差：采用内标校正的 检出限及其相对标准偏差等进行讨论，提出了以国际纯粹与应用化学联合会 (IUPAC)分光化学分析分会1976年采纳的检出限定义相对应的相对标准偏差 为基准，对各种测量、校准和校正方法计算出的检出限重新进行界定(校正)。 力求确定具有可比性的、精度一致的检出限。 同时还讨论了仪器及x光管固有杂质元素谱线对该元素检出限的影响；仪 器测量条件及测量时间对检出限的影响：不同类型试样对检出限的影响；检出限 与测定限等问题。 1．检出限不同算法及其相对标准偏差 1．1检出限的定义 根据国际纯粹与应用化学联合会(IUPAC)分光化学分析分会1976年所采 纳(Kaiser1947)的检出限定义为：把获得空白值标准偏差3倍所对应的 含量规定为检出限。X射线荧光分析检出限的表达式为： L 基金项目：国家“十五“科技攻关重大项目子课题(2001BA2,10A06) 收稿13期：2003-03．-05；修改日期：2003--06--05 作者简介：粱国立(1936-)．男厂东新会人，研究员，60年起长期从事x射线荧光分析研究 r一3。一3x／lo “Ⅲ“所以 CL：检出限(Agg“) m：灵敏度(cps／／299“) So：空白值标准偏差(即．、／10／t) Io：空白试样的计数率 t： 空白试样的测量时间(S) x射线的产生与探测都是随机的，当x光子累计数大于100的情况下， 其分布为正态分布，测定空白试样强度(背景强度)标准偏差3倍以上的峰值净 强度时，就可以说能够以99．73％的置信度检出了，这时检出限的相对标准偏差 为： RSD=-±且：±掣丝：±一1×100％=±33．33％ 3 3so 3√，o／t 1．2外标法检出限及其相对标准偏差 1．2．1校准曲线法 采用多个低含量(w{)的同类试样在x射线荧光光谱仪上选择适当的测量条 件，分别测量各个试样分析线谱峰的强度(计数率)，测量时间为t，通过(wi) 与各个试样测得的强度按校准方程作线性回归，求出校准曲线的斜率(a)和截 距(b)。见图1， JLWi／ggg。。／