TRL校准方法在微带天线研制中的应用.pdfVIP

T豇校准方法在t带天蟪研制中的应用 李荣军李正军高选正 i要本文介绍了TRL测试校准技术在徽带天线研制中的应用．以微带天线研制过程 为倒．详细介绍了校准过程。由于这种校准方式测试误差较小，因此得到了广泛的应用。 主曩词微带天线测试校准技术TRL 1．前言 络中的接入误差的一种校准方法。 网络分析仪被用于测量微波器件的散射参数Si．时，校准方法对测量精度起 着非常重要的作用。实际上．好的校准方法比高档的仪器可能取得更好的结果。 各种文献中介绍过网络分析仪的各种校准方法，每一种都有自己的优点和缺点， 有自己的适用范围。对于微带线馈电的微带贴片天线．要测量它的阻抗特性时， 由于网络分析仪的测量口是同轴口，与微带线难于匹配，且没有性能优良的微带 宽带负载，难以校准测量网络。所阻在研制微带线馈电的微带贴片天线时，通常 都用TRL的校准方法校准测量网络。 2．1材料等效介电常数￡。的确定 在微带天线的研制中，我们首先要确定所选用基底介质材料的等效介电常数 ￡。。为了确定￡。，则必须建立如图l所示的测试网络，用测量传输相位的方法来 确定基底材料的￡。。 图1．6。测试原理图 215 微带线直通，中间连接用导电铜箔搭接，然后进行归一校准。与端口所连微带线 阻抗只要基本接近50Q就可以了。(2)如图1．b所示，在直通的微带线之间再接入 一段传输线，测量接入传输线的传输相位，和同长度的空气传输线比较，就可以 算出基底材料的≈。传输线的宽度w和与端口相连的微带线宽度w一致，长度接 近半波长的整数倍，稍长的传输线能减少测量的相对相位误差。 ￡e(九／#o)2 九………………接入传输线Line的传输相位 九………………与Line同长度的空气传输线相位 根据￡e．可以由公式(2)计算得出500恃输线的线宽度w，从而建立TRL校准 网络。 詈=2{R-1-In幽+罢卜-，+0．293-半,7]} R2三3雨77sr·五∽一2‘婶 (2) 兰：!霉坚 ^exp(2日)一2 五2(44—2‘)n。 ” 日=剑+粤r02258+0．12081， 120 ‘+1L 。，， 2．2傀梭堆一培的建立 TRL校准网络的建立需要经过几次反复的过程，具体操作如下： (1)如图2所示，传输线阻抗为500．进行a直遁．b反射，C接入一段传输 线的校准。校准完成后，如图2d所示，与被测贴片天线连接。被蔫贴片天线的 初始尺寸约为0．5旭X0．5k。此时，在如图d所示情况下，以被测贴片天线的 谐振阻抗作为归一阻抗zi．进行阻抗归一化。 (2)重新制作如图2e所示的校准系统，传输线阻抗为50‘1到归一阻抗zi的过 渡阻抗，归一阻抗设定为Zi，重复a，b，c的校准过程，然后进行d的测试，并细 化调整被涌贴片天线的尺寸。 图2．TRL校准网络建立示意图 3应用举例 在某型号的研制过程中，我们采用了TIiL校准技术进行校准，研制出了双层 宽带的徽带贴片天线，测试结果见图3。 4螬论 TRL校准技术引入的测量误差小，系统稳定，测试校准系统制作简单，因而 具有广阔的应用前景。 厂————————～ KLP．PLHHL Sii FOR“南R0REFLECTIOH s“R -REF一上．000U三。。．V…VV