毫米波暗室静区反射电平自动测量的探讨.pdfVIP

令沿微波暗室轴向照射波的场强为 Ea=眩lP“ 暗室内任意方向的反射渡场强为 E，=IE；le” 则该方向的反射系数定义为 r，-尝2雕…’ Ⅲ 当位于微波暗室轴线上的测试天线转向与轴线成。角的方位时-墙壁单元散射场矢量 在测试天线处的反射场合成矢量为 可(耻芝阱“=f丽p印 测试天线在。方位接收的直射场矢量为 巧(日)=匠(日)p∥)：巧(o。弦(口) 式中G【o)为测试天线的增益函数+局(0)为9=o时直射场矢量。 以E。(扫)为参考，取它与E(口)的矢量和·于是有 上的极值E～，和E一。与此对应的反射系数为 邢)=烈 ㈤ 式中p(O)=兰些坐是。方向的反射电压驻波比。 ILswmm 根据(1)式所定义的，静区内任意方向的反射系数为 r= |婴l：l型I。J剿：r伊I婴l IE(o)llEAO)IIE，(0)I i匕(o)I 或 (3) =20rgr(o)+G一) 20坩：20Lgr(O)+20幻l量盟f 1日(o)I 上式即为暗室静区反射电平的运算依据。 2，测量方法 一般测量装置包括信号源，发射支架、接收支架，检波器和终端记录仪。发射支架设 计，能使天线实现方位角和滚动角的改变；接收支架设计．能使天线实现方位、俯仰和滚 ·23l· 动的变化。暴露在静区的支架应在其外表附上吸收材料以减小反射影响。测试前先将收发 系统调配好，测试过程中发射功率和频率保持不变。为了分别检测暗室侧壁．顶棚和地面 的反射，测试用的定向天线应沿暗室作纵向和横向的移动，并改变接收天线与发射天线的 轴向夹角，使每隔j4或10’重复测试驻波曲线。根据测试结果，选择满足要求的测试区 即静区．取静区内最大的反射系数作为静区的静度，静度一般取不大于--40dB。但是，采 用定向天线来测量反射电平有这样一些缺点： (1)由于测试天线方位角取样是离散的，横向和纵向上的取样也是离教的，故有漏掉 最大反射电平的可能。若要提高精度．就要增加采样角度和缩短采样距离，这会大大增加 ‘工作量。 (2)每个方位角都要重复移动测试天线，工作繁琐，要耗费大量的人力、物力和时间。 针对以上缺点．我们在接收装置上进行了改进，采用自动化的手段，由计算机来控制 测试天线实现方位、纵，横的变化．以及由计算机来采样，处理数据．测量装置如图1所 示。这样不但提高了测量精度，还节省了大量的人力、物力和时间。 我们这套自行设计研制的设备主要包括硬件和软件两大部分。硬件包括发射装置 和接收装置：完成电磁波的发射和接收工作，并驱动和控制接收支架及转台上的步进电机。 软件实现以下功能：(1)电轴对准；(2)定标。由于计算机采集的数经过了模拟电路和数 字电路的转换，它和末转换前的数已不再相等．需要通过定标．把采集的数与实际的屯场 模值对应起来，这样才能确保下面计算的正确性；(3)控制三台步进电机，使测试天线实 现横向．纵向和方位角的变化。控制电机．可使测试天线水平移动的最小距离运0．8m_； (4)采集和处理数据。采集数据时．可以在同一个点上多次采集，然后取其平均值．以 减小偶然因素的影响。由于反射系数r随空间位置的变化而变化，计算时．可以在一两个 波长内算出驻波比P(o)，根据式(2)算出r(B)．再由式(3)得到该空间位置的反射系 数20Lg{r)。软硬件相互配合，协调工作，才能使铡量快速，准确。 利用该设备对国防科技大学ATR毫米波暗室(其内部尺寸为9．7×4．4×4．4m3·矩形 结}句)进行了性能测试．测试频率为37GHz．垂直极化波。测试步骤：