圆形标志中心子像素定位方法的研究与实现.pdfVIP

维普资讯 第 30卷 第 5期 武 汉 大 学 学 报 ·信 息 科 学 版 Vo1．30No．5 2005年 5月 GeomaticsandInformationScienceofW uhanUniversity M ay2005 文章编号 ：167卜8860(2005)05—0388—04 文献标志码 A ： 圆形标志中心子像素定位方法的研究与实现 黄桂平 (1 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室，天津市卫津路 92号，300072) (2 信息工程大学测绘学院，郑州市陇海中路 66号，450052) 摘 要 ：采用回光反射材料制作 圆形 回光反射标 志，经摄影后得到标 志的 “准二值影像 ”；对标志的椭 圆影像进 行亚像素边缘提取 ，经最小二乘椭圆拟合后得到标志 中心的子像素级位置 。试验表明，可 以达到 0．02像素的 定位精度 。 关键词 ：图像测量 ；回光标志；边缘检测 ；亚像素 ；椭 圆拟合 中图法分类号 ：P249 目前 ，基于 图像 的测量技术_1 (视觉测量 、 视觉检测 、摄影测量)广泛应用于几何量 的尺寸测 量、地形测绘、精密零部件或产品的三维外形检测 以及光波干涉 图等领域 中。一般都是通过处理被 测物体 图像 中的特征 目标(边缘 、拐角点等 自然特 a ■ 征，十字刻划线 ，激光投射点或光条，圆形标志等) (a) fb) 的影像 ]，得到特征 目标的二维图像坐标 ，然后 图 l 回光标志影像 进行测量 。如果用软件处理 的方法将 图像上的特 Fig．1 PicturesofRRT 征 目标定位精度提高，就是直接提高了测量的精 度 。例如 ，当 目标定位精度为 0．1个像素时，则相 从而确定标志中心的精确位置 。 当于测量系统的硬件分辨率提高了 10倍 。为此 ， 众多研究者一直试 图利用软件处理的方法来解决 1 亚像素边缘检测 特征 目标的高精度定位 问题 。 圆形标志以其独特的形状一直广为使用，本 1．1 边缘点粗定位 文试验采用的是 回光反射材料制作 的圆形 回光反 像素级边缘点检测方法主要是用经典的边缘 射标志。由于回光材料的反射系数很高 ，在 同等 提取算子，如 Sobel算子、Prewitt算子等 。这 光源的照射下，其反射亮度较普通 白色标志高出 些经典算子都要计算像素点(i，J)处的梯度，本文 数百乃至上千倍 。因此，用闪光灯微弱闪光 ，即 采用 了3×3的卷积模板 ： 可得到被测物影像清淡、标志点影像密度大而清 晰的 “准二值影像 ”。图1即为实际得到的回光标 志影像 。 圆形标志经透镜成像后为椭 圆，为了对椭 圆 梯度分量为 ： 中心的子像素级精度定位，首先用边缘检测算子 G 一 {[_厂(i～1，J+1)一_厂(i～1，J一1)]+ 对椭 圆边缘进行粗定位 ，然后对像素级边缘点进