电晕对绝缘性能危害的探讨.pdfVIP

第 2 期 机 电 元 件 Vol25 No2 　2005年 6 月 EL ECTROM ECHAN ICAL COM PO NENTS Jun2005 　 研 究 与 设 计 电晕对绝缘性能危害的探讨 王 　强 , 彭光辉 , 王小波 (中国电子科技集团公司第四十研究所 , 安徽 　蚌埠 　2330 10) 　　摘要 : 在特定的工作环境中 , 电晕是一种不易察觉而又普遍存在的放电现象 , 它对产品的损坏是一个缓慢 的侵蚀过程 , 并最终导致产品完全失效 。文章主要介绍了电晕产生的机理以及电晕对产品绝缘性能产生的危害 , 分析了在产品设计中如何避免电晕的产生以及如何提高产品的抗电晕能力 , 并探讨了关于局部放电测量的基本 原理与试验方法 。 关键词 : 电晕 ; 击穿电压 ; 失效 ; 探讨 中图分类号 : TM 851　　文献标识码 : A 　　文章编号 : 1000 - 6 133 (2005) 02 - 00 19 - 03 应力 (即电场强度 ) 超过 了空气隙的击穿电压 。 1　引　　言 在绝缘材料的内部 、电极之间都会存在一定的空气 近年来 , 随着电子技术的发展 , 一些电子设备 隙 , 因而 , 当作用在这些空气隙上的电压应力超过 的工作电压也越来越高 , 从最初的几千伏到现在的 气体的击穿电压时 , 气体就会被击穿 , 形成电晕 。 几十千伏 , 甚至上百千伏 , 因此 , 电晕的产生是不 最初 , 局部放电产生的电火花烧蚀绝缘表面 , 可避免的。有资料显示 , 电子设备绝缘性能的失 同时产生的臭氧和酸对绝缘表面也有腐蚀作用 , 使 效 , 并不都是由于绝缘材料的耐电压强度不够而造 得绝缘表面变得粗糙 , 然后这种烧蚀和腐蚀缓慢渗 成的介质击穿 , 很多是由于电晕的产生而引起的绝 入绝缘体内部 , 但不会造成急剧损坏 。烧蚀到一定 缘失效 。 阶段就会向四周传播 , 形成枝状生长的通路 , 该通 路是导电的 , 这是因为通路的壁会碳化或者因为其 2　电晕产生的机理 中的气体高度电离所致 。 电晕即局部放电, 是指当电压应力超过某一临 3　气隙的击穿电压 界值时 , 在绝缘系统中气体瞬时电离引起的一种局 部放电现象 。显然 , “局部 ”并不是每一处 , “瞬 气体间隙的击穿电压和电压种类有关 , 直流电 时 ”并非持续 , “气体电离 ”则说明无气体便无电 压和工频电压统称为持续工作电压 , 这类电压的变 晕 , 因此 , 气体是电晕产生的最根本的条件之一 。 化速度很小 。本节主要介绍的是持续作用电压下的 众所周知 , 气体是不导电的 , 为优 良的绝缘 气隙击穿电压 。 体 。但是 , 当提高气体间隙上的外施电压而达到一 气隙的击穿电压即局部放电的起始电压 , 标准 定数值后 , 电流会突然剧增 , 从而使气体失去绝缘 大气条件下均匀 电场 中空气 的击 穿场强大致为 性能 , 产生自持放电现象 。所以, 电晕产生有两个 3kV /mm ,