X光实验报告(第四小组).docVIP

《X-ray反射实验》-实验报告 第四小组 2009212433 冯伟 2009212434 苏立赞 2009211500 盛蓬 2009211501 杨叶 2009211502 张永昌 2009211504 廖浩明 2009211505 郑翔 2009211506 陈曦 2009211507 徐翔 2009211508 王之顺  1.实验原理 1.1 概述 X是一种电磁波，能被带电粒子所散射，能产生折射，反射，散射，干涉，衍射和偏振等现象。其作为辐射的光子流，能产生康普顿效应。 当用一定波长的X去照射一个致密组织时，光线在电子密度不同的界面处被反射和折射。X反射是基于不同界面上所反射的X的干涉行为，而X衍射是基于周期晶格衍射出的X的干涉行为。 X分析是一种常用的分析手段，能较为有效的表征物质的内部结构。同时具有对试样无破坏性、样品制备简便快捷、相对廉价等特点。在材料科学研究领域，被广泛使用。 X反射分析技术是一种针对薄膜材料的检测手段。利用X的全反射与折射性质，可以从小角度范围内的薄膜材料反射图谱中，定量分析薄膜的厚度、密度、表面粗糙度、界面粗糙度等相关信息。 1.2 反射分析基本原理X-ray相当于一定频率的交变电磁场，从真空入射到物质中时，会迫使核外电子以相同的频率振动，相当于产生次级X-ray源，这就是所谓的散射过程