单片机片内A_D转换的实验研究.pdfVIP

第 19 卷 　第 5 期 池 州 师 专 学 报 2005 年 10 月 Vol . 19 No . 5 Journal 　of 　Chizhou 　Teachers 　College Oct . ,2005 单片机片内A/ D 转换的实验研究 宛明高 (池州师专物理系 　安徽池州 　247000) [摘要] 　文章介绍了片内A/ D 转换基本结构和特点 ,针对模拟输入信号源内阻对采样的影响、模拟输入信 号适应性的变换及转换精度提出了实验方案 。 [ 关键词] 　单片机 ; A/ D 转换 ;转换精度 ( ) [ 中图分类号] TP32 　　　[文献标识码] 　A 　 　 　 [文章编号] 　1008 - 7710 2005 05 - 0030 - 03 　　前言 号一般为双极性 、大幅度的 ,而参考 电压 AVREF 也随着工 在单片机控制及测量实验中 ,A/ D 转换器是数据采集 作电源的变化而变化 ,这些特性与片内A/ D 转换器上述 系统中不可缺少的重要组成部分 ,在系统的设计时 ,为了 特点和要求并不相符 。因而常会遇到模拟输入信号源对 简化电路 ,降低成本 、提高模拟通道的抗干扰能力 ,提高实 采样过程的影响、模拟输入信号大小与极性是否符合 A/ D 验的精度和实用性 。常采用片内嵌入式 A/ D 转换器 ,这 转换器对输入的要求以及工作电源变化对实验转换精度 种内嵌式 A/ D 转换器的基本组成结构如图 1 所示 。 的影响等问题 。 本文将对这几个方面 问题进行分析 , 并提出实验方 案 。在实际应用中 , 由于或者由于输入信号为双极性模拟 信号 ,不能直接与嵌入式微控制器相连 ,必须采取特殊措 施 ,使双极性模拟信号转换为可以直接测量的非负单极性 信号 ;还有如果输入信号幅值过大 , 以至于超过参考电压 , 也必须引入将压环节 ,使输入电压低于参考电压 ,等等 ,下 面对以上影响逐一进行分析 。 特点是 : 1. 模拟输入信号源对采样过程的影响 。 由模拟输入多路开关 、采样保持 、A/ D 转换组成一个 1. 1 基本原理 整体 ,其中A/ D 转换部分采用逐次比较式 A/ D 转换器进 对于并行输出ADC 集成电路通常都通过采样 、保持 行 ,使数值在一定范围内随着变化的输入模拟电压量化编 和量化 、编码两大部分电路完成模拟量到数字量的转换 , 码输出 ,其分辨率一般为 8 位 、10 位或 12 位 ; 其一般转换过程如图二所示 : 要求模拟量输入信号为非负单极性信号 ,而且信号的